GB/T 24577-2009 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物

GB/T 24577-2009 Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography

国家标准 中文简体 现行 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 24577-2009
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
适用范围
1.1本标准规定了硅片表面的有机污染物的定性和定量方法,采用气质联用仪或磷选择检测器或者两者同时采用。1.2本标准描述了热解吸气相色谱仪(TD-GC)以及有关样品制备和分析的相关程序。

发布历史

研制信息

起草单位:
信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所
起草人:
王奕、褚连青、李静
出版信息:
页数:12页 | 字数:19 千字 | 开本: 大16开

内容描述

犐犆犛29.045

犎80

中华人民共和国国家标准

/—

犌犅犜245772009

热解吸气相色谱法测定

硅片表面的有机污染物

犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犪狀犪犾狕犻狀狅狉犪狀犻犮犮狅狀狋犪犿犻狀犪狀狋狊狅狀狊犻犾犻犮狅狀

狔犵犵

狑犪犳犲狉狊狌狉犳犪犮犲狊犫狋犺犲狉犿犪犾犱犲狊狅狉狋犻狅狀犪狊犮犺狉狅犿犪狋狅狉犪犺

狔狆犵犵狆狔

20091030发布20100601实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

犌犅犜245772009

前言

本标准修改采用SEMIMF19821103《热解吸附气相色谱法评估硅片表面有机污染物的方法》。

本标准对格式进行了相应调整。为了方便比较,在资料性附录中列出了本标准

SEMIMF19821103B

章条和SEMIMF19821103章条对照一览表。并对SEMIMF19821103条款的修改处用垂直单线标

识在它们所涉及的条款的页边空白处。

本标准与SEMIMF13890704相比,主要技术差异如下:

———去掉了“目的”

定制服务