GB/T 15879.4-2019 半导体器件的机械标准化 第4部分：半导体器件封装外形的分类和编码体系
GB/T 15879.4-2019 Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 4:Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
国家标准
中文简体
现行
页数：18页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 15879.4-2019
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2019-08-30
实施日期
2019-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
GB/T 15879的本部分规定了半导体器件的封装外形分类和命名方法，以及为半导体器件封装生成通用描述性命名的系统方法。
本描述性命名方法提供了一种有用的交流工具，但并不确保相同编码的封装具有互换性。
本描述性命名方法提供了一种有用的交流工具，但并不确保相同编码的封装具有互换性。
发布历史
-
2019年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 彭博、吴亚光、李丽霞、赵静、宋玉玺、张崤君
- 出版信息：
- 页数：18页 | 字数：34 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- YS/T 600-2009 铝及铝合金液态测氢方法 闭路循环法 2009-12-04
- YS/T 667.3-2009 化学品氧化铝化学分析方法 第3部分 4A沸石中镉、铬、钒含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 2009-12-04
- YS/T 63.22-2009 铝用炭素材料检测方法 第22部分：焙烧程度的测定 等效温度法 2009-12-04
- YS/T 687-2009 电子行业机柜用铝合金板、带材 2009-12-04
- YS/T 685-2009 铝及铝合金液态测氢仪 2009-12-04
- YS/T 667.2-2009 化学品氧化铝化学分析方法 第2部分 填料用氢氧化铝及拟薄水铝石中砷、汞、铅含量的测定氢化物发生-电感耦合等离子体发射光谱法 2009-12-04
- YS/T 667.4-2009 化学品氧化铝化学分析方法 第4部分 4A沸石中砷、汞含量的测定氢化物发生-电感耦合等离子体发射光谱法 2009-12-04
- YS/T 665-2009 重熔用精铝锭 2009-12-04
- YS/T 688-2009 铝及铝合金深冲用板、带材 2009-12-04
- YS/T 689-2009 衡器用铝合金挤压扁棒 2009-12-04