GB/T 5225-1985 金属材料定量相分析 X射线衍射K值法
GB/T 5225-1985 Metal materials—Quantitative phase analysis—"Value K"method of X-ray diffraction
基本信息
发布历史
-
1985年07月
研制信息
- 起草单位:
- 北京钢铁研究总院
- 起草人:
- 陆金生、金学彩、谢锡庆、陈鸿业、石少均、覃道湘、高秀娟、杨承岳、孙金贵
- 出版信息:
- 页数:7页 | 字数:11 千字 | 开本: 大16开
内容描述
中华人民共和国国家标准
t1D(VV.520
金属材料定量相分析188
GB5225一85
X射线衍射K值法
Metalmaterials-Quantitativephaseanalysis
一“ValueK,,methodofX一raydiffraction
本标准适用十测量金属材料多晶粉末中的物相含量。也可供其他材料的多品粉末试样定堆相分析
参照使用。
1原理
一种物相的X射线衍射花样是该物相的晶体结构特性表征。
用K值法对多相试样进行X射线衍射定最分析时,某相的衍射线累积强度与该相有试样中的含ii:
有公式(L).(2)的关系(推异见附录A):
la(hAl)Wr
I,(h,k,l,)W},
K、二Iai竺些.二..….‘
li(hk;d)Wa
式中:xa“相在待测粉末中的重量含4";
xrI—比例常数。对同辐‘射,该常数与待i19。相及参考物质有关;
1.(hkd,)—待测粉末加入参考物质后,a相(h,k+l,)晶面的衍射线累积强度;
Ir(hIk,l,)待测粉末加人参考物质后,参考物质(hik,l)晶而的衍射线累积强度;
1,(h;kdi)—参考试样中。相((h;kJ0晶面的衍射线累积强度;
1,(h,k,1,)—参考试样中参考物质(h,k,l,)晶面的衍射线累积强度;
W,—待测粉末加入参考物质后,参考物质的重量;
Wo—待测粉末加人参考物质时,所取待测粉末的重量;
w'r,—参考试样1扣参考物质的重址;
Wa—参考试样树「寺测相粉末的重41.
本方法特点是通过先求K'值最后测定xuo
it:参考试样指求x,rifHt所MLA制的试样。
2试样的要求和制备
配样
称重
配样称重时,重幼的相对偏离址不得大厂n.1%。
21.2参考物质与参考试样
2.1.2.1参考物质的选择
选择参考物质的原则是:
a在测试过程t其物理、化学Jht质稳定,不易潮解;
国家标准局1985一07一18发布1986一07一Q1实施
GB5225一85
b、用t-测w的衍射线强度要强,其峰位与待测相的测继衍射线接近而又红不1迭也未受其他
衍射线I扰;
c魏裕物店的沈吸的-f数.AT,半径应与待i111时f}l冬14z接近。Tai,粒平径要P'介本标准22.2的
要求
半径应满足公式(3):
2.1.2.2参考物质、待侧相的线吸收系数和颗tii
D
'Pl一uJ.一气100(3)
式巾:PI一一待测相的线吸收系数,1/cm;
万—参考物质。〔待测相的混合物的线吸收系数;
D一一颗粒直径,}xmo
参考物质和待视恃目的颗粒半径许可范围为。.t一501xmo
2.1.2.3求K昌值时,纯参考物质与纯待测相混合而成的参老试样的配比建议为:
W"
—=1门
Wa
当参考物质与待测相的被测衍射线累积强度相差较大时,应改变配比,增强弱衍射线的W积强度
2.1.2.4待测粉末中加人参考物质的量应使混合试样I川寺钡叮相与参考物质所选用的衍射线累积强
度基木相当。
注:ilk合试样}n9寺测粉来加人参Arj物质后制成的试样
2.1.3待测粉末。‘混合试样
2.1.3.1在帷个测定过程中,待测粉末与混介试样必须不发性相变、不潮解、化学性质稳定。
2.1.3.2待测粉末的颗粒半径应满足2.1.2.2的要求。
2.1.4混样
将2.1.2.3和2.1.2.4配成的粉末分别用玛瑙乳钵研磨30一40min混合均匀。
2
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