适用范围：本文件描述了工业循环冷却水及锅炉用水的pH测定方法。 本文件适用于工业循环冷却水及锅炉用水pH在0~14范围内的测定,也适用于天然水、污水的pH的测定。

适用范围：本文件描述了采用差示扫描量热法(DSC)测定费托合成蜡熔点和滴熔点的方法,熔点测定范围为55.0 ℃~80.0 ℃;滴熔点测定范围为75.0 ℃~115.0 ℃。超出测定范围参照此方法执行,但精密度未进行验证。 本文件适用于费托合成蜡熔点和滴熔点的测定。

适用范围：本文件描述了油气储层砂岩样品扫描电镜分析中的原理仪器设备、软件及材料，试样制备，试验步骤，分析步骤和分析报告等内容。 本文件适用于砂岩样品的扫描电镜分析，也适用于泥岩、页岩、煤岩等岩石中砂质组分的扫描电镜分析。

适用范围：本文件描述了化学试剂杂质测定用标准溶液的制备方法。 本文件适用于制备单位容积内含有准确数量物质(元素、离子或分子)的溶液，适用于化学试剂中杂质的测定。其他领域参考选用。

适用范围：本文件规定了化学试剂氨水的性状、技术要求、检验规则和包装及标志，描述了相应的试验方法。 本文件适用于化学试剂氨水的检验。 注：化学试剂氨水分子式为 NH₃·H₂O,相对分子质量为35.05(根据2022年国际相对原子质量),CAS号为1336-21-6。

适用范围：本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度（10 nm~100 nm）的方法。 本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1  μm。 本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒，例如类似海胆状的纳米颗粒。 注：主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时，本文件的不确定度将明显增大。

适用范围：本文件规定了化学试剂氢氧化钠的性状、技术要求、检验规则和包装及标志，描述了相应的试验方法。 本文件适用于化学试剂氢氧化钠的检验。

适用范围：本文件规定了化学试剂二水合柠檬酸三钠的性状、技术要求、检验规则和包装及标志，描述了相应的试验方法。 本文件适用于化学试剂二水合柠檬酸三钠的检验。

适用范围：本文件描述了基于常温聚焦离子束扫描电镜对生物样品进行三维成像的方法。 本文件适用于各种类型的常温聚焦离子束扫描电镜对细胞、动植物组织、微生物等生物样品进行三维成像。

适用范围：本文件描述了在俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)中使用惰性气体离子的离子束对准方法,以确保溅射深度剖析中的良好深度分辨和表面的最佳清洁。这些方法有两类:一类是用法拉第杯测量离子束流;另一类是成像方法。其中,法拉第杯法还规定了离子束流密度和束流分布的测量要求。 本文件适用于束斑直径小于或等于1 mm 的离子枪,但不包括深度分辨优化。

适用范围：本文件举例描述了ISO/TC 201专业范围内有助于表征生产生物传感装置基底性质的表面化学分析方法。成功的表征使人们有机会更好地了解生产过程中每个步骤的表面化学反应,这些特性将影响最终器件(如微阵列)的整体性能。制备的步骤包括连接分子固定用于基底活化,以及用生物传感(即所谓的探针)所需的特异性生物分子对活化的基底进行功能化修饰。 玻片的硅烷基功能化是生物传感玻璃基底研究的重点,也是后续固定探针分子的关键生产步骤。固定好的探针用于传感生物识别事件。选择硅烷化过程是因为它是目前生物传感器生产中最受欢迎的方法之一。 本文件概述了识别基底、器件生产步骤(如清洁、活化和化学修饰)和有效期(如储存条件和老化)相关问题可能来源的方法、策略和指南。这些与表征玻璃基底生物传感器的表面化学分析人员和生物传感装置生产领域的开发人员或质量管理者均特别相关。基于定量和定性表面化学分析,能制定策略来确认器件制造中性能不佳的原因,并加以实施。本文件展示了当前技术的研究深度,以及ISO/TC 201未来更具体工作的潜在出发点,这些工作最终将形成标准化的测量程序。 本文件未讨论具体的处理方案。如需了解有关方案的更多信息,请参考专业文献,例如参考文献[1]~参考文献[9]。

适用范围：本文件描述了使用原子力显微镜（AFM）测量柔顺材料弹性模量的程序。通过测量柔顺材料表面的力-距离曲线，并使用基于JKR模型理论的两点法进行分析。 本文件适用于弹性模量范围为100 kPa～1 GPa的柔顺材料。空间分辨取决于AFM探针和表面之间的接触半径，通常约为10 nm～20 nm。

适用范围：本文件描述了利用X射线光电子能谱(XPS)测量导电碳基材料结合能的方法。 本文件适用于碳纳米管、石墨烯、石墨等导电碳基材料结合能的测量。

适用范围：本文件界定了光学界面分析领域(包括椭偏测量、拉曼光谱和非线性光学)的表面化学分析术语,以及普通光学术语。 本文件适用于表面化学分析中光学界面分析相关的教学、科研、设计、制造、编写相关技术文件和书刊以及技术交流。

适用范围：本文件描述了使用中能离子散射术（MEIS）对硅基底上无定形重金属氧化物超薄膜进行定量深度剖析的方法。

适用范围：本文件描述了一种通过对尺寸比预期分辨小得多的物体成像来测定共聚焦荧光显微镜（CFM）横向分辨的方法。