适用范围：本文件给出了用于数字谱数据交换的一种简单格式。 本文件适用于微束分析领域常见谱数据的存储和传输。 注：本文件提供的格式可供人和计算机读取，适合通过各种电子网络、电话系统（带调制解调器）或物理计算机存储设备（如可移动存储介质）进行传输。该格式不依赖于任何一种计算机、编程语言或计算机操作系统。采用该标准格式能使不同实验室之间自由交换谱数据，并有助于数据分析软件的标准化。如果设备制造商也支持该通用格式，显微和微束分析团队将避免重复编写数据分析软件。

适用范围：本文件描述了使用电子能谱技术确定“核-壳”纳米颗粒(包括一些变体和非理想形态)包覆层厚度和化学组成的方法。明确了每种方法的假设、挑战和不确定性。本文件还描述了电子能谱用于纳米颗粒样品常规分析的规程和问题,特别是它们对包覆层厚度测量的重要性。 本文件重点介绍了电子能谱技术的使用,特别是X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)和基于同步辐射的方法。这些方法不能提供准确分析所需的所有信息,因此,本文件概述了一些附加的分析方法,在一定程度上有助于解释电子能谱数据。

适用范围：本文件规定了仪器分析用试剂甲醇的性状、技术要求、试验方法、检验规则、包装及标志。本文件适用于仪器分析用试剂甲醇的检验。

适用范围：本文件规定了仪器分析用试剂乙腈的性状、技术要求、试验方法、检验规则、包装及标志。本文件适用于仪器分析用试剂乙腈的检验。

适用范围：本文件规定了化学试剂四氯乙烯的性状、技术要求、试验方法、检验规则、包装及标志。本文件适用于化学试剂四氯乙烯的检验。

适用范围：本文件规定了化学试剂无水四硼酸锂的性状、技术要求、试验方法、检验规则、包装及标志。本文件适用于化学试剂无水四硼酸锂的检验。

适用范围：本文件描述了一种通过高温加热去除杂质和表面活性剂配体后测量量子点分散液中量子点质量和质量浓度的方法。

适用范围：本文件给出了辉光放电质谱(GD-MS)的操作和使用程序。目前在用的几种GD-MS系统来自不同的制造商，本文件描述了所适用操作程序的差异。 注： 本文件旨在配合仪器制造商的操作手册和推荐内容使用。

适用范围：本文件规定了基于模型数据库(MBL)方法通过测长扫描电子显微镜(CD-SEM)成像来测定晶圆和光掩膜的关键尺寸(CD)值所需的结构模型、相关参数、文件格式和拟合程序。 本文件适用于试样的线宽测定，如晶圆上的栅极、光掩膜、单个孤立或密集排列的线特征图案，最小达10 nm。

适用范围：本文件适用于过热蒸汽压力不高于16.7 MPa的锅炉中添加的多元胺锅炉水处理药剂的性能测定。

适用范围：本文件适用于工业循环冷却水及锅炉用水系统的污垢和腐蚀产物中钠、钾、硅、磷、硫、镁、铝、钙、铁、铜、锌、锰、镍、铬、钛、钼、钒、铌、钡、锶等各元素含量大于0.01%时的快速测定。

适用范围：本文件适用于采用锌盐沉积法测定水处理剂稳定锌盐的性能。

适用范围：本文件规定了用于表征AFM探针形状，特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上，或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中，后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针，其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。

适用范围：本文件描述了在常规分析条件下从特定样品获得的X射线光电子能谱(XPS)数据中评估元素检测限并给出报告的程序。本文件适用于均匀材料，对XPS信息深度内元素深度分布不均匀的材料不适用。

适用范围：本文件提供了在表面化学分析前生物材料样品的处理、安装和表面处理方法的指导。其目的是帮助分析人员了解在进行分析时，使用如下技术对特殊样品处理所需的条件： ——X射线光电子能谱(XPS)或化学分析电子能谱 (ESCA)； ——二次离子质谱 (SIMS)； ——俄歇电子能谱(AES)。 所提出的方法也适用于其他对表面组成分析灵敏的技术，如： ——衰减全反射傅里叶变换红外光谱 (ATR-FTIR)； ——全反射X射线荧光光谱(TXRF)； ——紫外光电子能谱 (UPS)。 本文件阐述了所用真空条件的影响和检测前后及植入前后的污染问题，以及在检测过程中与污染相关的问题。这里的生物材料包括硬质和软质，如金属、陶瓷、支架和聚合物。 本文件不包括诸如细胞、组织和生物体等活体生物材料。本文件中不涵盖的其他相关主题还包括电子显微镜或光学显微镜的样品制备。

适用范围：本文件描述了对材料薄膜进行协助表面分析的方法，这些薄膜不含有碳化合物作为预期成分，但在全扫描谱中观察到C 1s峰。这些薄膜可通过有氧或电化学氧化在金属和合金上生成，也可沉积在惰性基底上的。所述程序不适用于在基底上颗粒的不连续沉积。除此之外，还提供了一个可从含碳的表面污染物中识别C 1s信号的简单程序。当C 1s峰被确定为来自于外来的覆盖层时，从全谱中得出的成分可针对其影响进行校正。建议的程序以“如果-则”格式的简单规则结构形式所提供，目的是让它们所包含的信息可被数据系统中的自动化程序所利用。所提供的规则仅利用从XPS全扫描（谱）中检索的信息。

适用范围：本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)分析中，由X射线辐照导致试样元素组成或化学态的非预期性损伤的识别、评估和校正方法的要求。 本文件仅适用于X射线引起的非预期性损伤，导致光电子谱峰强度的降低或增加小于30%。本文件不涉及不同类型材料之间的比较，也不涉及发生损伤的机制、深度或化学性质。

适用范围：本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中，通过测量基于聚四氟乙烯（PTFE）质谱中的同位素比值，从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法，强度的非线性是由在死时间内到达微通道板（MCP）或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器（TDC）的二次离子强度损失引起的。该校正可将95％线性的强度范围增加到50倍以上，因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪，可以采用更高的最大计数率。

适用范围：本文件提供了使用适当的单层和多层参考物质优化溅射深度分析参数的指导和要求，以便优化俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱中的仪器设置，实现最佳深度分辨。 本文件不涵盖特殊多层膜系（例如δ掺杂层）的使用。