• GB/T 31370.4-2015 平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第4部分:耐化学性 现行
    译:GB/T 31370.4-2015 Test method of flat panel display(FPD)color filters—Part 4:Chemical resistance
    适用范围:GB/T 31370的本部分规定了平板显示器(FPD)彩色滤光片耐化学性的测试方法。 本部分适用于平板显示器(FPD)用彩色滤光片耐化学性的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2015-02-04 | 实施时间: 2015-10-01
  • GB/T 31378-2015 平板显示器(FPD)偏光膜表面硬度的测试方法 现行
    译:GB/T 31378-2015 Test method for surface hardness of flat panel display (FPD) polarizing film
    适用范围:本标准规定了平板显示器用偏光膜表面硬度的测试方法。 本标准适用于平板显示器偏光膜表面硬度的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2015-02-04 | 实施时间: 2015-10-01
  • GB/T 31370.2-2015 平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法—第2部分:耐光性 现行
    译:GB/T 31370.2-2015 Test method of flat panel display (FPD) color filters—Part 2:Light resistance
    适用范围:GB/T 31370的本部分规定了平板显示器(FPD)彩色滤光片耐光性的测试方法。 本部分适用于平板显示器(FPD)用彩色滤光片耐光性的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2015-02-04 | 实施时间: 2015-10-01
  • GB/T 11446.8-2013 电子级水中总有机碳的测试方法 现行
    译:GB/T 11446.8-2013 Test method for total organic carbon in electronic grade water
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水中总有机碳的测试方法。 本部分适用于电子级水中总有机碳的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.1-2013 电子级水 现行
    译:GB/T 11446.1-2013 Electronic grade water
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水的级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。 本部分适用于电子和半导体工业用高纯清洗用水。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.10-2013 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法 现行
    译:GB/T 11446.10-2013 Test method for total bacterial count in electronic grade water by membrane filters
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水中细菌总数(活菌)的滤膜培养测试方法。 本部分适用于EW-Ⅰ~EW-Ⅳ级电子级水中细菌总数的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法 现行
    译:GB/T 11446.9-2013 Test method for particles in electronic grade water by instrument
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水中微粒的仪器测定方法。 本部分适用于电子级水中微粒的连续式或单次检测计数,测定的微粒粒径不小于0.05 μm,微粒的浓度范围为0~10 000个/mL。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.7-2013 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法 现行
    译:GB/T 11446.7-2013 Test method for trace anion in electronic grade water by ion chromatography
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水中痕量氟离子(F-)、氯离子(Cl-)、亚硝酸根离子(NO-2)、溴离子(Br-)、硝酸根离子(NO-3)、磷酸根离子(PO3-4)、硫酸根离子(SO2-4)的离子色谱测试方法。 本部分适用于电子级水中痕量氟离子、氯离子、亚硝酸根离子、溴离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的测定,其中检出限依次为0.7 μg/L、0.8μg/ L、1 μg/L、1 μg/L、1 μg/L、1 μg/L 和 1 μg/L。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.6-2013 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 现行
    译:GB/T 11446.6-2013 Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法。 本部分适用于电子级水中二氧化硅的测定,其中检出限为1 μg/L。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.3-2013 电子级水测试方法通则 现行
    译:GB/T 11446.3-2013 Generic rules for test methods of electronic grade water
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水的采样、贮存与运输及报告的格式。 本部分适用于EW-Ⅰ~EW-Ⅳ级电子级水。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.4-2013 电子级水电阻率的测试方法 现行
    译:GB/T 11446.4-2013 Test method for resistivity of electronic grade water
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了电子级水的电阻率的测试方法。 本部分适用于电子级水电阻率测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 11446.5-2013 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法 现行
    译:GB/T 11446.5-2013 Test method for measuring trace metals in electronic grade water by atomic absorption spectrophotometry
    适用范围:GB/T 11446的本部分规定了无火焰(或火焰)原子吸收分光光度计测定电子级水中痕量金属铜、锌、镍、铁、铅、钠和钾的测试方法。也可使用灵敏度相当的其他仪器如电感耦合等离子体/质谱仪(或电感耦合等离子体发射光谱仪)测量。 无火焰原子吸收分光光度适用于EW-Ⅰ~EW-Ⅲ级电子级水中痕量金属的测定。方法的检出限(质量分数)应在1×10-9以下。 火焰原子吸收分光光度法适用于EW-Ⅳ电子级水中痕量金属的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 现行
    译:GB/T 14620-2013 Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
    适用范围:本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 现行
    译:GB/T 14619-2013 Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
    适用范围:本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)也可参照使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 29846-2013 印制板用光成像耐电镀抗蚀剂 被代替
    译:GB/T 29846-2013 Photoimageable plating and etching resist paste of printed circuit board
    适用范围:本标准规定了印制板用光成像耐电镀抗蚀剂的术语和定义、性能、试验方法、检验规则和包装。 本标准适用于印制板制造用的光成像耐电镀抗蚀剂、光成像抗电镀剂、光成像抗酸性蚀刻剂和光成像抗碱性蚀刻剂。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 29848-2013 光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜 被代替
    译:GB/T 29848-2013 Ethylene-vinyl acetate copolymer(EVA)film for encapsulant solar module
    适用范围:本标准规定了光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜(以下简称EVA胶膜)的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。 本标准适用于以乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)为主要原料,添加各种助剂,经熔融加工成型,用于地面光伏组件封装的胶膜。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 29844-2013 用于先进集成电路光刻工艺综合评估的图形规范 现行
    译:GB/T 29844-2013 Specifications for metrology patterns for the evaluation of advanced photolithgraphy
    适用范围:本标准规定了用于先进集成电路光刻工艺综合评估的标准测试图形单元的形状、一般尺寸,以及推荐的布局和设计规则,这些标准测试图形包括可供光学显微镜和扫描电子显微镜用的各种图形单元。 本标准适用集成电路的工艺、常规掩模版、光致抗蚀剂和光刻机的特征和能力作出评价及交替移相掩模版相位测量,适用于g线、i线、KrF、ArF等波长的光刻设备及相应的光刻工艺。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 29847-2013 印制板用铜箔试验方法 现行
    译:GB/T 29847-2013 Test methods for copper foil used for printed boards
    适用范围:本标准规定了印制板用铜箔外观、尺寸、物理性能、工艺性能及其他性能的试验方法。 本标准适用于刚性及挠性印制板用铜箔。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15
  • GB/T 29056-2012 硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法 被代替
    译:GB/T 29056-2012 Trichlorosilane for silicon epitaxy—Determination of boron,aluminium,phosphorus,vanadium,chrome,manganese,iron,cobalt,nickel,copper,arsenic,molybdenum and antimony content—Inductively coupled plasma mass spectrometric method
    适用范围:本标准规定了用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)中硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷、锑等痕量元素含量的方法。 本标准适用于硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)中硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷、锑等含量的测定。各元素测定范围见表1。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2012-12-31 | 实施时间: 2013-10-01
  • GB/T 28859-2012 电子元器件用环氧粉末包封料 被代替
    译:GB/T 28859-2012 Encapsulating material of powdered epoxy for electronic components
    适用范围:本标准规定了电子元器件用环氧粉末包封料(以下简称包封料)的分类、技术要求、检验规则、检验方法、包装、标志、运输及贮存要求。 本标准适用于陶瓷电容器、压敏电阻器、薄膜电容器、电阻网络、热敏电阻器等电子元器件流化床包封用环氧粉末包封料。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2012-11-05 | 实施时间: 2013-02-15