国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译:DL/T 1611-2016 Ultra-sonic testing and quality evaluation of the butt weld of steel pipe in transmission line tower【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 :H26金属无损检验方法发布单位或类别:(CN-DL)行业标准-电力 | 发布时间: 2016-08-16 | 实施时间: 2016-12-01收藏 -
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译:YS/T 26-2016 Test methods for edge contour of silicon wafers适用范围:本标准规定了硅片边缘轮廓(包含切口)的检验方法。 本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓(包含切口),砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-07-11 | 实施时间: 2017-01-01收藏 -
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译:YS/T 1165-2016 Determination method for copper,manganese,chromium,cobalt,nickel,vanadium,zinc,lead,iron,magnesium,indium and arsenic content in high pure germanium tetrachloride—Inductively coupled plasma mass spectrometry method适用范围:本标准规定了高纯四氯化锗中铜、锰、铬、钴、镍、钒、锌、铅、铁、镁、铟和砷元素含量的测定方法。 本标准适用于高纯四氯化锗中铜、锰、铬、钴、镍、钒、锌、铅、铁、镁、铟和砷元素含量的测定,各元素的测定范围(质量分数)为1×10-9%~2×10-5%,其中铁为动态反应池模式测定。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-07-11 | 实施时间: 2017-01-01收藏 -
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译:YS/T 716.7-2016 Methods for chemical analysis of low grade blister—Part 7:Determination of platinum and palladium contents—Fire assay collection-inductively coupled plasma-atomic emission spectrometric methods and flame atomic absorption spectrometric methods适用范围:YS/T 716的本部分规定了黑铜中铂量和钯量的测定方法。 本部分适用于黑铜中铂量和钯量的测定。测定范围为方法1:铂2.0 g/t~40.0 g/t,钯2.0 g/t~180.0 g/t;方法2:钯5.0 g/t~180.0 g/t。 本部分方法1为仲裁方法。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-07-11 | 实施时间: 2017-01-01收藏 -
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译:YS/T 1166-2016 Test method for IR transmissivity of high pure germanium tetrachloride适用范围:本标准规定了高纯四氯化锗红外透过率的测定方法。 本标准适用于高纯四氯化锗红外透过率的测定,测定范围为0~100%。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-07-11 | 实施时间: 2017-01-01收藏 -
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译:SJ/T 11630-2016 SJ/T 11630-2016 Geometric Dimension Test Method for Silicon Substrates Used in Solar Cells【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:YS/T 1107-2016 Chemical analysis methods for carboxyethl-germanium sesquioxide适用范围:本标准规定了羧乙基锗倍半氧化物中无机二氧化锗、羧乙基锗倍半氧化物、铅、镉、汞及砷含量的测定方法。 本标准适用于测定羧乙基锗倍半氧化物中的无机二氧化锗,测定范围为0.005%~0.050%;羧乙基锗倍半氧化物,测定范围为98.5%~100.0%;铅、镉、汞,测定范围分别为(0.01~1.0)×10-4%、(0.01~0.5)×10-4%、(0.01~0.5)×10-4%;砷,测定范围为(0.10~1.0)×10-4%。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:SJ/T 11631-2016 The testing method for surface defects of silicon wafers used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:YS/T 24-2016 Test methods for spike of epitaxial layers适用范围:本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。 本标准适用于判断硅外延片上是否存在高度不小于4 mm的钉缺陷。如果钉缺陷数量比较少且彼此不相连,可对钉缺陷进行计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:SJ/T 11632-2016 Testing method for micro-crack defects in silicon wafers used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:SJ/T 11629-2016 Online photoluminescence analysis method for silicon wafers and cell modules used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:YS/T 1103-2016 Shear wave method of ultrasonic inspection for copper and copper alloy tubes适用范围:本标准规定了铜及铜合金管材超声波横波检测方法。 本标准适用于采用A型脉冲反射法对壁厚与外径之比<0.2的铜及铜合金管材进行超声波探伤。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 :H26金属无损检验方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:YS/T 23-2016 Test method for thickness of epitaxial layers—Stacking fault size适用范围:本标准规定了利用堆垛层错尺寸法测量硅外延层厚度的方法。 本标准适用于在111、100和110晶向的硅单晶衬底上生长的2 μm~120 μm硅外延层厚度的测量。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:SJ/T 11627-2016 The online testing method for the resistivity of silicon wafers used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:SJ/T 11628-2016 The online testing methods for silicon wafer size and electrical characterization for solar cells【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-04-05 | 实施时间: 2016-09-01收藏 -
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译:SN/T 4308-2015 The determination of chromium, nickel, silicon, manganese, aluminum, phosphorus, tungsten, molybdenum, cobalt, and vanadium content in alloy steel by ICP-OES method【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H11钢铁与铁合金分析方法发布单位或类别:(CN-SN)行业标准-商品检验 | 发布时间: 2015-09-02 | 实施时间: 2016-04-01收藏 -
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译:YB/T 4503-2015 The method of testing the residual deformation of steel bar mechanical connectors【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.10金属材料机械试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H22金属力学性能试验方法发布单位或类别:(CN-YB)行业标准-黑色冶金 | 发布时间: 2015-07-14 | 实施时间: 2016-01-01收藏 -
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译:YS/T 14-2015 Test method for thickness of heteroepitaxy layers and polycrystalline layers适用范围:本标准规定了异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法。 本标准适用于测量衬底与沉积层之间界面层厚度小于100 nm的异质外延层和硅多晶层的厚度测量范围为1 μm~100 μm。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01收藏 -
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译:YS/T 1086-2015 Test methods for chemical analysis of high purity antimony—Determination of magnesium,manganese,iron,nickel,copper,zinc,arsenic,selenium,silver,cadmium,gold,lead and bismuth content—Inductively coupled plasma-mass spectrum method适用范围:本标准规定了高纯锑中镁、锰、铁、镍、铜、锌、砷、硒、银、镉、金、铅、铋含量的测定方法。 本标准适用于高纯锑中镁、锰、铁、镍、铜、锌、砷、硒、银、镉、金、铅、铋含量的测定。各元素测定范围为0.000 1%~0.010%。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01收藏 -
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译:YS/T 1059-2015 Determination of total carbon content in trichlorosilane for silicon eqitaxy—Gas chromatographic method适用范围:本标准规定了硅外延用三氯氢硅中总碳含量的气相色谱测定方法。 本标准适用于硅外延用三氯氢硅中总碳含量的测定,测定范围为0.000 05%~0.005%。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01收藏
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