适用范围：本标准规定了铝及铝合金中铬、铅、锡含量的波长色散X射线荧光光谱法测定方法。 本标准适用于铝及铝合金中铬、铅、锡的测定，测定范围见表1。

适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。本部分适用于工业硅中汞含量的测定，测定范围：0.000 010%~0.001 0%。

适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铬含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铬的测定，测定范围：0.001 0%~0.050 0%。

适用范围：本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。 本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。

适用范围：本标准规定了氧化铝中的二氧化硅、三氧化二铁、氧化钠、氧化钾、氧化铜、氧化镁、氧化钙、三氧化二硼、三氧化二铬、五氧化二钒、氧化锌、二氧化钛、氧化锰、三氧化二镓、氧化锂、氧化铍等杂质元素含量的测定方法。 本标准适用于氧化铝中二氧化硅、三氧化二铁、氧化钠、氧化钾、氧化铜、氧化镁、氧化钙、三氧化二硼、三氧化二铬、五氧化二钒、氧化锌、二氧化钛、氧化锰、三氧化二镓、氧化锂、氧化铍等杂质元素含量的测定。测定范围见表1。

适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铜含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中铜含量的测定测定范围(质量分数)：0.001 0%~0.50%。

适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中磷含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中磷含量的测定，测定范围（质量分数）：0.001 0%～0.30%。

适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中钛含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中钛含量的测定测定范围(质量分数)：0.001 0%~0.30%。

适用范围：本标准规定了铝及铝合金中合金元素及杂质的光电直读发射光谱分析方法。本标准适用于铝及铝合金中锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铈、铬、铜、镓、铁、铅、锂、镁、锰、镍、磷、钪、硅、钠、锶、锡、钛、钒、锌、锆28个元素的同时测定，测定范围见表1。

适用范围：本标准规定了镁稀土合金(WE54、WE43、GWK)中稀土元素的光电直读发射光谱分析方法。 本标准适用于镁稀土合金(WE54、WE43、GWK)中钆、钕、钇、锆4个元素的同时测定测定范围见表1。

适用范围：本标准规定了红外吸收光谱分析法对铝电解质中碳元素含量的测定。 本标准适用于铝电解质中碳含量的测定。测定范围：0.02%~2.00%。