GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法
GB/T 14849.10-2016 Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 10:Determination of mercury content—Atomic fluorescence spectrometry method
国家标准
中文简体
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 14849.10-2016
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2016-08-29
实施日期
2017-07-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。本部分适用于工业硅中汞含量的测定，测定范围：0.000 010%~0.001 0%。
发布历史
-
2016年08月
研制信息
- 起草单位：
- 昆明冶金研究院、北京有色金属研究总院、北京矿冶研究总院
- 起草人：
- 刘英波、罗舜、杨毅、陈殿耿、王立、唐飞、杨琛、段坤艳、滕亚君、周杰、杨海岸、赵德平、刘维理、陈映纯、蒯丽君、程堆强、麦丽碧
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：12 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS77.120.10
H12
中华人民共和国国家标准
/—
GBT14849.102016
工业硅化学分析方法
:
第部分汞含量的测定
10
原子荧光光谱法
—
Methodsforchemicalanalsisofsiliconmetal
y
:—
Part10Determinationofmercurcontent
y
Atomicfluorescencesectrometrmethod
py
2016-08-29发布2017-07-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
/—
GBT14849.102016
前言
/《》:
工业硅化学分析方法分为个部分
GBT1484911
———:,;
第部分铁含量的测定二氮杂菲分光光度法
1110-
———:;
第部分铝含量的测定铬天青分光光度法
2-S
———:;
第部分钙含量的测定
3
———:;
第部分杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
4
———:
定制服务
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