GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 14849.5-2014 Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method
国家标准
中文简体
现行
页数：9页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 14849.5-2014
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2014-12-05
实施日期
2015-05-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。
发布历史
-
2011年01月
-
2014年12月
研制信息
- 起草单位：
- 昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司
- 起草人：
- 刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智弢、张晓平、刘汉士、刘维理、马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟
- 出版信息：
- 页数：9页 | 字数：13 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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