GB/T 14849.8-2015 工业硅化学分析方法 第8部分:铜含量的测定原子吸收光谱法

GB/T 14849.8-2015 Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 8:Determination of copper content—Atomic absorption spectrometric method

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基本信息

标准号
GB/T 14849.8-2015
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标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2015-09-11
实施日期
2016-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC /TC 243)
适用范围
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铜含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铜含量的测定测定范围(质量分数):0.001 0%~0.50%。

研制信息

起草单位:
昆明冶金研究院
起草人:
赵德平、刘维理、赵建为、杨毅、王仁祥、胡智弢、安中庆、亢若谷、程堆强、王宏磊、匡玉云、陈文书、刘英波、覃国健、王云舟、张云晖、胡璇、吴豫强、周娅、唐飞
出版信息:
页数:6页 | 字数:10 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS77.120.10,____

中华人民共和国国彖标准

GB/T14849.8—2015

工业硅化学分析方法

第8部分:铜含量的测定

原子吸收光谱法

Methodsforchemicalanalysisofsiliconmetal—

Part8:Determinationofcoercontent—

Atomicabsorptionspectrometricmethod

2015-09-11发布2016-08-01实施

幅畿勰畫曹1警彎畫发布

GB/T14849.8—2015

-—1—

刖旨

GB/T14849((T.业硅化学分析方法》分为11部分:

——第1部分:铁含量的测定1,10-二氮杂菲分光光度法;

——第2部分:铝含量的测定锯天青-S分光光度法;

—第3部分:钙含量的测定火焰原子吸收光谱法、偶氮氯麟I分光光度法;

——第4部分:杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法;

——第5部分:杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法;

——第6部分:碳含量的测定红外吸收法;

—一第7部分:磷含量测定磷钳分光光度法;

——第8部分:铜含量测定原子吸收光谱法;

——第9部分:钛含量测定二安替毗咻甲烷分光光度法;

——第10部分:汞含量的测定氢化物发生一原子荧光光谱法;

——第11部分:六价饼含量的测定二苯碳酰二脐分光光度法。

本部分为GB/T14849的第8部分。

本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本部分由中国有色金属工业协会提出。

本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。

本部分负责起草单位:昆明冶金研究院。

本部分参加起草单位:昆明冶研新材料股份有限公司、云南省出入境检验检疫局、通州标准技术服

务有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、云南永昌硅业股份有限公司。

本部分主要起草人:赵德平、刘维理、赵建为、杨毅、王仁祥、胡智強、安中庆、亢若谷、程堆强、

王宏磊、匡玉云、陈文书、刘英波、覃国健、王云舟、张云晖、胡璇、吴豫强、周娅、唐飞。

GB/T14849.8—2015

工业硅化学分析方法

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