• T/CEMIA 057-2026 半导体设备用石英玻璃表层杂质元素含量检测方法 现行
    译:T/CEMIA 057-2026 Testing method for impurity elements content in the surface layer of quartz glass products for semiconductor
    适用范围:本标准规定了使用酸浸取石英玻璃表层一定深度(≤5μm)内的金属杂质,使用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)定量检测被浸取的石英玻璃质量,使用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)定量检测金属杂质元素含量的方法。 方法原理、干扰因素、试剂、仪器和设备、环境条件、试样准备、试验步骤、结果计算与表示、精密度和质量控制、试验报告
    【国际标准分类号(ICS)】 :81.040.30玻璃产品 【中国标准分类号(CCS)】 :Q35石英玻璃
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-07-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • T/CEMIA 060-2026 半导体槽式清洗设备用石英载具 现行
    译:T/CEMIA 060-2026 Quartz carrier trough-type cleaning equipment for semiconductor
    适用范围:本文件规定了半导体槽式清洗设备用石英载具的术语和定义、分类和标记、材料、要求、试验方法、检验规则以及标识、包装、运输和贮存。 材料、外观质量、未注线性尺寸公差、未注角度尺寸公差、未注形位公差、材料杂质元素含量、应力
    【国际标准分类号(ICS)】 :81.040.30玻璃产品 【中国标准分类号(CCS)】 :Q35石英玻璃
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-07-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • T/CEMIA 058-2026 集成电路外延设备用圆形石英腔 现行
    译:T/CEMIA 058-2026 Circular quartz chamber for Integrated circuit epitaxial equipment
    适用范围:本文件规定了集成电路外延设备用圆形石英腔的术语和定义、分类和标记、材料、技术要求、试验方法、检验规则以及标识、包装、运输和贮存。 材料、外观质量、未注线性尺寸公差、未注倒角公差、未注角度公差、材料杂质元素含量、应力、密封面泄漏率
    【国际标准分类号(ICS)】 :81.040.30玻璃产品 【中国标准分类号(CCS)】 :Q35石英玻璃
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-07-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • T/CEMIA 059-2026 集成电路炉管设备用石英管泄漏测试方法 现行
    译:T/CEMIA 059-2026 Method of Vacuum Leak Test for Quartz Components of IC Furnace Tube Equipment
    适用范围:本标准规定了集成电路炉管设备用石英部件的真空泄漏测试方法,包括测试的一般要求、测试方法、和测试报告 人员资质、设备要求、气体要求、环境要求、测试方法、测试报告
    【国际标准分类号(ICS)】 :81.040.30玻璃产品 【中国标准分类号(CCS)】 :Q35石英玻璃
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-07-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • T/CEMIA 043-2024 集成电路扩散设备用石英外管 现行
    译:T/CEMIA 043-2024 Quartz outer tubes for integrated circuit diffusion equipment
    适用范围:本文件规定了集成电路扩散设备用石英外管的术语和定义、分类和标记、材料、技术要求、试验方法、检验规则以及产品标识、包装、运输和贮存。 本文件适用于集成电路制造工艺用12 in及以下的集成电路扩散设备用石英外管产品。 注:1 in=25.4 mm。
    【国际标准分类号(ICS)】 :81.040.30玻璃产品 【中国标准分类号(CCS)】 :Q35石英玻璃
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2024-11-05 | 实施时间: 2025-01-05