适用范围：本文件规定了普通螺纹量规（以下简称“螺纹量规”）的符号及说明、分类、公差、要求、检测及验收、标志与包装。 本文件适用于牙型角为60°、公称直径为1 mm～300 mm、螺距为0.2 mm～8 mm的螺纹量规，也适用于检验GB/T 192、GB/T 193、GB/T 196、GB/T 197规定的普通螺纹。

适用范围：本文件规定了扭簧比较仪的型式与基本参数、要求、检验方法和标志与包装运输。 本文件适用于分度值0.1 μm、0.2 μm、0.5 μm、1 μm、2 μm、5 μm、10 μm，示值范围为±30标尺分度、±60标尺分度、±100标尺分度，夹持套筒直径为28 mm的扭簧比较仪的设计和生产。

适用范围：本文件规定了以下两种深度卡尺最重要的设计和计量特性： --带模拟指示：游标刻度或圆盘刻度（表盘）； --带数字指示：数字显示。

适用范围：本文件规定了游标、带表和数显万能角度尺（以下统称“万能角度尺”）的型式与基本参数、要求、试验方法、检验条件、检验方法和标志与包装。 本文件适用于分度值为2′和5′、测量范围为0°～320°和0°～360°的游标万能角度尺，分度值为2′和5′、测量范围为0°～360°的带表万能角度尺，以及分辨力为10′′、1′和5′、测量范围为0°～360°的数显万能角度尺的设计和生产。

适用范围：本文件规定了55°非密封管螺纹量规的符号及说明、公差、要求、验收及检测、标志与包装。 本文件适用于GB/T 7307-2001规定的55°非密封管螺纹的检验。

适用范围：本文件规定了以下两种卡尺最重要的设计和计量特性： --带模拟指示：游标尺或圆形刻度盘； --带数字显示：数字显示屏。

适用范围：本文件描述了半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的测量方法。 本文件适用于半导体设备的可靠性、可用性和维修性（RAM）测试。

适用范围：本文件规定了在测量制造商规定的长度时，验证光学三维坐标测量系统性能的验收检测，还规定了用户定期验证光学三维坐标测量系统（CMS）性能的复检检测。 本文件适用于被扫描物体的表面特性（如光泽度、颜色）在一定范围内时，对坐标测量系统性能的验证。 本文件不适用于其他类型的坐标测量系统，包括GB/T 16857系列其他部分所涵盖的内容、用于测量表面特性的测量仪器（见GB/T 33523所有部分）、光学显微镜、手持式激光线扫描仪等。

适用范围：本文件规定了使用坐标测量机和已校准工件或测量标准进行测得结果的不确定度评定程序，提供了一种简化用于坐标测量机测量不确定度评定的实验方法，该方法（替代测量）采用与实际测量一致的方式，使用尺寸形状与实际工件相似的已校准工件替代未知的被测工件。 同时涵盖坐标测量机非替代测量方法、不确定度评定程序的要求、所需的测量设备，以及测量不确定度的复验和中间检查。 本文件规定的测量不确定度评定方法可适用于其他坐标测量系统。 注：测量不确定度的评定总是与特定测量任务相关。

适用范围：本文件规定了高频往复试验机的系统构成和测试原理、技术要求、仪器的核对、检验规则、包装与随机文件、运输和储存及安装条件，描述了相应的试验方法。 本文件适用于柴油润滑性评定用高频往复试验机。

适用范围：本文件规定了水锤监测系统的要求，并描述了相应的试验方法。 本文件适用于城镇供排水、建筑给水、引(调)水、工业给排水和矿井排水、农业灌溉等有压输水工程的水锤监测。

适用范围：本文件描述了X射线三维尺寸测量机的测量不确定度评定方法。 本文件适用于X射线三维尺寸测量机的测量不确定度评定。

适用范围：本文件界定了X射线三维尺寸测量机的术语。 本文件适用于X射线三维尺寸测量机。

适用范围：本文件描述了采用光学暗场共焦显微镜对微区表面及亚表面的表征方法。 本文件适用于固体材料。

适用范围：本文件给出了动态光散射法粒度分析仪的原理，规定了其性能、电源电压适应性、环境适应性、安全性、机械结构、试验条件等技术要求，描述了其准确性、重复性的试验方法。本文件适用于测量纳米级及亚微米级颗粒的平均粒径、粒径分布等参数的粒度分析仪的试验、检测、运行和维护。

适用范围：本文件描述了使用扫描氮空位探针显微技术对样品产生的微弱静磁场进行成像的方法。本文件适用于使用扫描氮空位探针显微镜进行样品表面磁感应强度成像。具体场景如下：--对以磁性薄膜、二维磁性材料等为代表的弱磁性样品（磁感应强度典型值＜10 mT)进行磁成像；--对矫顽力低的磁性样品进行磁成像；--对磁结构或磁矩密度进行定量研究；--对微观尺度电流磁场进行成像。注： 本文件涉及的氮空位色心特指金刚石中带负电荷的氮空位色心。

适用范围：本文件规定了奇数沟千分尺的型式与基本参数、通则、检验方法、标志与包装。本文件适用于分度值为0.001 mm、0.002 mm、0.01 mm，测量上限不大于100 mm的奇数沟千分尺的设计、制造与检验。

适用范围：本文件规定了螺纹千分尺（不包括电子数显螺纹千分尺）的型式与基本参数、要求、检查条件、检验方法、标志与包装。 本文件适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm，测量范围小于或等于300 mm的螺纹千分尺（不包括电子数显螺纹千分尺）的设计、制造和检验。

适用范围：本文件规定了两点内径千分尺（包括接杆式内径千分尺及单杆式内径千分尺)的型式与基本参数﹑通则﹑检验条件、检验方法以及标志与包装。本文件适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm、0.005 mm，测微螺杆螺距为0.5  mm或1.0 mm,测量上限不大于6 000 mm的接杆式内径千分尺及单杆式内径千分尺（不包括电子数显内径千分尺)的设计、制造与检验。

适用范围：本文件规定了纳米几何量标准样板测试方法的分类及原理、测试设备、测试环境、测试程序及测试数据处理。本文件适用于线间隔为50 nm~100 nm的纳米线间隔标准样板、线宽为20 nm~100 nm的纳米线宽标准样板、台阶高度为10 nm~100 nm的纳米台阶高度标准样板和薄膜厚度为2 nm~100 nm的纳米膜厚标准样板的测试。