• SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法 废止
    译:SJ 2214.3-1982 Method of measurement for dark current of semiconductor photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则 废止
    译:SJ 2215.1-1982 General procedures of measurement for semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 废止
    译:SJ 2215.11-1982 Method of measurement for pulse rise fall delay and storage time of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法 废止
    译:SJ 2214.5-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 废止
    译:SJ 2215.13-1982 Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 废止
    译:SJ 2215.10-1982 Method of measurement for direct current transfer ratio of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01