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现行
译：KA/T 47-2005 Light Interference Methane Detector
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N34光学计量仪器
发布单位或类别：(CN-KA)行业标准-矿山安全 | 发布时间： 2005-02-14 | 实施时间： 2005-06-01
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被代替
译：GB/T 19500-2004 General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2004-04-30 | 实施时间： 2004-12-01
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被代替
译：GB/T 3161-2003 Optical theodolite
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-01-17 | 实施时间： 2003-08-01
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废止
译：GB/T 15245-2002 Quantitative analysis of rare earth element(REE)oxides by electron probe microanalysis(EPMA)
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01
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被代替
译：GB/T 18873-2002 General specification of transmission electron microscope(TEM)—X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01
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被代替
译：GB/T 15244-2002 Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01
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被代替
译：GB/T 15617-2002 Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01
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现行
译：JB/T 9318-1999 Geodetic instruments-circle graduations of visual reading
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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现行
译：JB/T 9332-1999 Geodetic instruments Connection between instrument and tripod
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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废止
译：JB/T 9339-1999 Measuring microscope
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N34光学计量仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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废止
译：JB/T 9341.3-1999 Metrology grating technology-Technical requirements for grating bar of glass
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N34光学计量仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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废止
译：JB/T 8233-1999 Vertical contact interferometers
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N34光学计量仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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废止
译：JB/T 9326-1999 Laser Raman spectrophotometer
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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废止
译：JB/T 9323-1999 Photoelasticimeter
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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现行
译：JB/T 9320-1999 Plane-gratings spectrographs
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：X30/34制糖与糖制品
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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现行
译：JB/T 9331-1999 Slits for optical spectrum instruments
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：H20/29金属理化性能试验方法
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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现行
译：JB/T 9337-1999 Geodetic instruments-Tripods
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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现行
译：JB/T 8231-1999 The basic parameters of the plane-gratings spectrographs
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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现行
译：GB/T 17341-1998 Optics and optical instruments—Focimeters
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N34光学计量仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-05 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 10156-1997 Leveller
【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-30 | 实施时间： 1998-07-01
被代替
被代替
废止
被代替
被代替
被代替
现行
现行
废止
废止
废止
废止
废止
现行
现行
现行
现行
现行
被代替