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HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

HB 6742-1993 The determination of crystal orientation of single crystal blades using X-ray backscattering Laue photography

行业标准-航空 中文(简体) 现行 页数：12页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
HB 6742-1993
标准类型
行业标准-航空
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1993-11-05
实施日期
1994-03-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

文前页预览

HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法-第1页
HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法-第2页
HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法-第3页

研制信息

起草单位：
中国航空工业总公司六二一研究所主编、三三一厂和四- 0厂参加起草。 本标准由中国航空工业总公司六二一研究所主编、三三一厂和四一〇厂参加
起草人：
张国焕、龚慧锋、张银东、任启运
出版信息：
页数：12页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

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