GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
GB/T 30860-2014 Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
国家标准
中文简体
现行
页数：12页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2014-07-24
实施日期
2015-04-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品，则需相关各方协商同意。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品，则需相关各方协商同意。
发布历史
-
2014年07月
研制信息
- 起草单位：
- 中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
- 起草人：
- 徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰、杨素心、蒋建国、王丽华、薛抗美、黄黎
- 出版信息：
- 页数：12页 | 字数：20 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS77.040
H21
中华人民共和国国家标准
/—
GBT308602014
太阳能电池用硅片表面粗糙度及
切割线痕测试方法
Testmethodsforsurfacerouhnessandsawmarkofsiliconwafersforsolarcells
g
2014-07-24发布2015-04-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
/—
GBT308602014
前言
本标准按照/—给出的规则起草。
GBT1.12009
(/)(/
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会SACTC203及材料分技术委员会SACTC
/)共同提出并归口。
203SC2
:、()、
本标准起草单位中国有色金属工业标准计量质量研究所瑟米莱伯贸易上海有限公司江苏协
、、、
鑫硅材料科技发展有限公司有研半导体材料股份有限公司特变
定制服务
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