GB/T 5080.2-2012 可靠性试验第2部分：试验周期设计

GB/T 5080.2-2012 Reliability testing—Part 2:Design of test cycles

国家标准中文简体现行页数：21页 | 格式：PDF

基本信息

标准号

GB/T 5080.2-2012

发布历史

1986年11月

GB/T 5080.2-1986　设备可靠性试验试验周期设计导则

被代替 1986-11-19
2012年11月

GB/T 5080.2-2012　可靠性试验第2部分：试验周期设计

当前标准现行 2012-11-05

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研制信息

起草单位：: 工业和信息化部电子第五研究所、北京大学

起草人：: 时钟、阳川、汪凯蔚、房祥忠

出版信息：: 页数：21页 | 字数：38 千字 | 开本：大16开

内容描述

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第2部分 被代替

GB 5080 第4部分

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第4部分现行

GB 5080 第5部分

GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案

第5部分现行

GB 5080 第6部分

GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验

第6部分现行

GB 5080 第7部分

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第7部分现行

引用标准

GB/T 2423

GB/T 2423.52-2003 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验77：结构强度与撞击

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GB/T 2423.53-2005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Xb：由手的摩擦造成标记和印刷文字的磨损

现行

GB/T 2423.57-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ei：冲击冲击响应谱合成

现行

GB/T 2423.58-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fi：振动混合模式

现行

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现行

GB/T 2423.102-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验：温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合

现行

GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABMFh：温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合

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GB/T 2423.60-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U：引出端及整体安装件强度

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GB/T 5080.2-1986

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