GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

ICS31.200

L56

中华人民共和国国家标准

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GBT350062018

半导体集成电路

电平转换器测试方法

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Semiconductorinteratedcircuits

g

Measurinmethodoflevelconverter

g

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国

国家标准

半导体集成电路

电平转换器测试方法

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GBT350062018

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中国标准出版社出版发行

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服务热线:

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年月第一版

20181

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书号:·

1550661-58844

版权专有侵权必究

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GBT350062018

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4总则………………………2

4.1测试环境要求………………………2

4.2测试注意事项………………………2

5功能测试…………………2

5.1目的…………………2

5.2测试原理图…………………………2

5.3测试程序……………3

5.4测试条件……………3

6静态参数测试……………3

输入钳位电压()…………………

6.1VIK3

输入高电平电压()………………

6.2VIH4

输入低电平电压()………………

6.3VIL5

输出高电平电压()……………

6.4VOH5