• GB/T 16525-2015 半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范 现行
    译:GB/T 16525-2015 Semiconductor integrated circuits—Specification of leadframes for plastic leaded chip carrier package
    适用范围:本标准规定了半导体集成电路塑料有引线片式载体(PLCC)封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。 本标准适用于半导体集成电路塑料有引线片式载体(PLCC)封装引线框架的研制、生产和采购。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2015-05-15 | 实施时间: 2016-01-01
  • SJ/T 11479-2014 IP文档结构指南 现行
    译:SJ/T 11479-2014
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/T 11477-2014 IP核交付项规范 现行
    译:SJ/T 11477-2014 SJ/T 11477-2014 IP core delivery specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/T 11478-2014 IP核质量评测 现行
    译:SJ/T 11478-2014 IP Core Quality Evaluation
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • GA/T 1171-2014 芯片相似性比对检验方法 现行
    译:GA/T 1171-2014 Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
    适用范围:本标准规定了集成电路芯片相似性比对检验方法。 本标准适用于集成电路芯片相似性比对,检验集成电路芯片设计的相似性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间: 2014-07-09 | 实施时间: 2014-07-09
  • GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范 现行
    译:GB/T 15877-2013 Semiconductor integrated circuits—Specification of DIP leadframes produced by etching
    适用范围:本标准规定了半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求和试验方法及检验规则。 本标准适用于半导体集成电路蚀刻型双列(DIP)封装引线框架(镀金及镀银),单列蚀刻型引线框架亦可参照使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-15
  • GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 现行
    译:GB/T 17574.11-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-11:Digital integrated circuits—Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2006-12-05 | 实施时间: 2007-05-01
  • GB/T 17574.9-2006 半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器 空白详细规范 现行
    译:GB/T 17574.9-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-9:Digital integrated circuits—Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2006-12-05 | 实施时间: 2007-05-01
  • GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范 现行
    译:GB/T 17574.20-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-20:Digital integrated circuits—Family specification—Low voltage integrated circuits
    适用范围:本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2006-12-05 | 实施时间: 2007-05-01
  • GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路 现行
    译:GB/T 20515-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 5:Semicustom integrated circuits
    适用范围:本标准规定了下列集成电路(IC)分类体系树(见图1)中有关半定制集成电路子类的标准。 注:这个体系树是不封闭的,可以在需要时拓展。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2006-10-10 | 实施时间: 2007-02-01
  • SJ/Z 11358-2006 集成电路IP核模型分类法 废止
    译:SJ/Z 11358-2006 SJ/Z 11358-2006 IP core model classification for integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11351-2006 用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准 废止
    译:SJ/Z 11351-2006 SJ/Z 11351-2006 is the standard format for describing, selecting, and transferring IP cores for integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11359-2006 集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法 现行
    译:SJ/Z 11359-2006 Taxonomy of functional verification for integrated circuit IP core development and integration
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11353-2006 集成电路IP核转让规范 废止
    译:SJ/Z 11353-2006 SJ/Z 11353-2006 Specification for Transfer of Integrated Circuit IP Kernels
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11361-2006 集成电路IP核保护大纲 现行
    译:SJ/Z 11361-2006 Integrated Circuit IP Core Protection Guidelines。
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11354-2006 集成电路模拟/混合信号IP核规范 现行
    译:SJ/Z 11354-2006 SJ/Z 11354-2006 Specification for analog/mixed signal IP cores for integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11352-2006 集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范 废止
    译:SJ/Z 11352-2006 SJ/Z 11352-2006 Specification for the exchange format and criteria of test data for integrated circuit IP cores
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11356-2006 片上总线属性规范 废止
    译:SJ/Z 11356-2006 On-chip bus attribute specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11355-2006 集成电路IP/SoC功能验证规范 现行
    译:SJ/Z 11355-2006 Integrated Circuit IP/SoC Function Verification Specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) 现行
    译:GB/T 12750-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 11:Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
    适用范围:本分规范适用于已封装的半导体集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2006-08-23 | 实施时间: 2007-02-01