适用范围：GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 本试验是破坏性试验。 本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

适用范围：GB/T 4937的本部分规定了采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的可焊性试验程序。 本试验方法规定了通孔、轴向和表面安装器件(SMDs)的“浸入和观察”可焊性试验程序，以及可选的SMDs板级安装可焊性试验程序，用于模拟在元器件使用时采用的焊接过程。本试验方法也规定了老化条件,该条件为可选。 除有关文件另有规定外，本试验属于破坏性试验。

适用范围：GB/T 4937的本部分规定了几种不同的试验方法，用来测定引线/封装界面和引线的牢固性。当电路板装配错误造成引线弯曲，为了重新装配对引线再成型加工时，进行此项试验。对于气密封装器件，建议在本试验之后按IEC 60749-8进行密封试验，以确定对引出端施加的应力是否对密封也造成了不良影响。 本部分的每一个试验条件，都是破坏性的，仅适用于鉴定试验。 本部分适用于所有需要用户进行引线成型处理的通孔式安装器件和表面安装器件。

适用范围：本标准规定了LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计的数据获取和处理方法。本标准适用于服从指数分布或近似服从指数分布的LED应用产品的可靠性试验的实验室试验数据处理和现场使用数据处理。

适用范围：本标准规定了通过恒定温度应力加速寿命试验得到LED光通维持寿命的试验方法。本标准适用于光通量慢退化失效模式的可见光LED。

适用范围：本标准规定了半导体分立器件型号命名方法的组成原则、组成部分的符号及其意义。 本标准适用于各种半导体分立器件。

适用范围：GB/T 22181的本部分规定了数字电视机用等离子体显示器件参数特性的测量方法。本部分适用于数字电视机用等离子体显示器件。其他用途的等离子体显示器件可参考本部分。

适用范围：GB/T 22181的本部分是等离子体显示器件的总规范。它规定了IECQCECC体系质量评定的通用程序，并规定了电学、光学、图像显示、机械及环境性能描述和测试的通用要求。本部分适用于等离子体显示器件。

适用范围：GB/T 22181的本部分是数字电视机用等离子体显示器件（以下简称器件）空白详细规范。它规定了器件的电学、光学、图像显示、机械及环境性能描述和测试的详细要求。本部分适用于数字电视机用等离子体显示器件。

适用范围：本部分规定了有机发光二极管（OLED）显示模块和屏（以下简称“OLED显示器件”）的光学和光电参数标准测量条件和标准测量方法。 其中，光学参数测试方法见第6章，光电参数测试方法见第7章、附录A和附录B。

适用范围：本标准规定了可信平台主板的组成结构、信任链构建流程、功能接口。 本标准适用于基于可信平台控制模块的可信平台主板的设计、生产和使用。

适用范围：本标准给出了绝缘栅双极晶体管（IGBT）的术语、文字符号、基本额定值和特性以及测试方法等产品特定要求。

适用范围：GB/T 18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IECQ体系质量评定的通用程序，并给出了电光特性测试方法的通用要求，给出了气候、机械和耐久性试验方法。 本部分适用于液晶显示器件，包括液晶显示屏和液晶显示模块。

适用范围：GB/T 22181的本部分给出了在下列领域内确定表征等离子体显示模块的性能的测量方法： a）缺陷; b)图像残留； c)寿命。 本部分适用于等离子体显示模块的显示质量测量。

适用范围：GB/T 15852的本部分规定了三种采用专用杂凑函数的消息鉴别码算法。这些消息鉴别码算法可用作数据完整性检验，检验数据是否被非授权地改变。同样这些消息鉴别码算法也可用作消息鉴别，保证消息源的合法性。数据完整性和消息鉴别的强度依赖于密钥的长度及其保密性、杂凑函数的算法强度及其输出长度、消息鉴别码的长度和具体的消息鉴别码算法。 本部分适用于任何安全体系结构、进程或应用的安全服务。

适用范围：GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

适用范围：GB/T 18910的本部分规定了液晶显示器件的光电参数的标准测量条件和测量方法。 本部分适用于字段显示、有源或无源矩阵显示的透射式液晶显示器件(以下简称“显示器件”)，可以是单色、多色或彩色显示，包括有内置光源和无内置光源的显示器件。 本部分不适用于投影显示模式，反射式液晶显示器件可参考使用。

适用范围：GB/T 18910的本部分规定了液晶显示器件的物理概念、通用术语以及参数和特性方面的术语和符号。 本部分适用于字段型、无源或有源矩阵、彩色或非彩色液晶显示屏和液晶显示模块。

适用范围：GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验（HAST）方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

适用范围：本部分规定了彩色等离子体显示模块显示特性的测量方法。 本部分适用于下列5个项目的测量： a)4%窗口亮度； b)亮度均匀性； c)暗室对比度； d)白色色度及色度均匀性； e)色域。