适用范围：本文件描述了X射线三维尺寸测量机的测量不确定度评定方法。 本文件适用于X射线三维尺寸测量机的测量不确定度评定。

适用范围：本文件界定了X射线三维尺寸测量机的术语。 本文件适用于X射线三维尺寸测量机。

适用范围：本文件描述了采用光学暗场共焦显微镜对微区表面及亚表面的表征方法。 本文件适用于固体材料。

适用范围：本文件规定了单一组成要素圆度的完整规范操作集。 本文件仅适用于单一组成要素的完整圆度轮廓。

适用范围：本文件规定了功能量规及其操作规范的设计，功能量规的检验、符合性判定和仲裁，及被测工件的符合性判定和仲裁。 本文件适用于实体功能量规和数字功能量规的设计和应用。一些未标注最大实体/最小实体要求的几何公差要求的检验器具设计和应用参考使用。

适用范围：本文件规定了单一组成要素平面度的完整规范操作集。 本文件仅适用于单一组成要素的完整平面度轮廓。

适用范围：本文件规定了用于轮廓滤波的双正交小波及相关概念，并给出了具有紧支撑特性的双正交小波的基本术语及其相关用法。

适用范围：本文件规定了单一组成要素圆柱度的完整规范操作集。 本文件适用于单一组成要素的完整圆柱度轮廓。

适用范围：本文件规定了单一组成要素直线度的完整规范操作集。 本文件仅适用于单一组成要素的完整直线度轮廓。 注：圆柱面提取轴线的直线度在ISO 12180-1中进行规定。

适用范围：本文件给出了动态光散射法粒度分析仪的原理，规定了其性能、电源电压适应性、环境适应性、安全性、机械结构、试验条件等技术要求，描述了其准确性、重复性的试验方法。本文件适用于测量纳米级及亚微米级颗粒的平均粒径、粒径分布等参数的粒度分析仪的试验、检测、运行和维护。

适用范围：本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。 本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。

适用范围：本文件描述了使用扫描氮空位探针显微技术对样品产生的微弱静磁场进行成像的方法。本文件适用于使用扫描氮空位探针显微镜进行样品表面磁感应强度成像。具体场景如下：--对以磁性薄膜、二维磁性材料等为代表的弱磁性样品（磁感应强度典型值＜10 mT)进行磁成像；--对矫顽力低的磁性样品进行磁成像；--对磁结构或磁矩密度进行定量研究；--对微观尺度电流磁场进行成像。注： 本文件涉及的氮空位色心特指金刚石中带负电荷的氮空位色心。

适用范围：本文件规定了奇数沟千分尺的型式与基本参数、通则、检验方法、标志与包装。本文件适用于分度值为0.001 mm、0.002 mm、0.01 mm，测量上限不大于100 mm的奇数沟千分尺的设计、制造与检验。

适用范围：本文件规定了两点内径千分尺（包括接杆式内径千分尺及单杆式内径千分尺)的型式与基本参数﹑通则﹑检验条件、检验方法以及标志与包装。本文件适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm、0.005 mm，测微螺杆螺距为0.5  mm或1.0 mm,测量上限不大于6 000 mm的接杆式内径千分尺及单杆式内径千分尺（不包括电子数显内径千分尺)的设计、制造与检验。

适用范围：本文件规定了螺纹千分尺（不包括电子数显螺纹千分尺）的型式与基本参数、要求、检查条件、检验方法、标志与包装。 本文件适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm，测量范围小于或等于300 mm的螺纹千分尺（不包括电子数显螺纹千分尺）的设计、制造和检验。

适用范围：本文件规定了内径指示表的型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法和标志与包装。本文件适用于分度值或分辨力为0.01 mm、0.001 mm，测量范围为6 mm～1 000 mm的指针和数显读数的内径指示表的设计、制造与检验。

适用范围：本文件规定了纳米几何量标准样板测试方法的分类及原理、测试设备、测试环境、测试程序及测试数据处理。本文件适用于线间隔为50 nm~100 nm的纳米线间隔标准样板、线宽为20 nm~100 nm的纳米线宽标准样板、台阶高度为10 nm~100 nm的纳米台阶高度标准样板和薄膜厚度为2 nm~100 nm的纳米膜厚标准样板的测试。

适用范围：本文件描述了表征光钟性能的主要参数及其测量方法。本文件适用于光钟设计、研发和生产制造过程中的性能评价。

适用范围：本文件规定了电子数显指示表最重要的设计和计量特性。

适用范围：本文件规定了高度卡尺（带有机械或数字显示）最重要的设计和计量特性。