国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译：GB/T 26070-2010 Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method适用范围：1.1本标准规定了Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测试方法。 1.2本标准适用于GaAs、InP（GaP、GaSb可参照进行）等化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测量。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2011-01-10 | 实施时间： 2011-10-01收藏 -
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译：YS/T 226.11-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 11:Determination of lead content—Flame atomic absorption spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中铅量的测定方法。本部分适用于硒中铅量的测定。测定范围：0.000 2%～0.04%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.4-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 4:Determination of mercury content—Dithizone-carbon tetrachloride titrated colorimetric-method适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中汞量的测定方法。 本部分适用于硒中汞量的测定。测定范围：0.0005％～0.04％。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 519.2-2009 Methods for chemical analysis of arsenic—Part 2:Determination of antimony content—Malachite green spectrophotometric method适用范围：YS/T 519的本部分规定了砷中锑量的测定方法。本部分适用于砷中锑量的测定。测定范围：0.01%～0.45%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.1-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 1:Determination of bismuth content—Hydride generation-atomic fluorescence spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中铋量的测定方法。 本部分适用于硒中铋量的测定。测定范围：0.0002%～0.010%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.9-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 9:Determination of iron content—Flame atomic absorption spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中铁量的测定方法。本部分适用于硒中铁量的测定。测定范围：0.000 5%～0.06%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.5-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 5:Determination of silicon content—Molybdenum blue spectrophotometric method适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中硅量的测定方法。 本部分适用于硒中硅量的测定。测定范围：0.000 2％～0.002 0％。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.13-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 13:Determination of siliver,aluminum,arsenic,boron,mercury,bismuth,copper,cadmium,iron,gallium,indium,magnesium,nickel,lead,silicon,antimony,tin,tellurium,titanium and zinc content—Inductively coupled plasma mass spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定方法。 本部分适用于硒中银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定。测定范围：各元素测定范围见表1。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.3-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 3:Determination of aluminum content—Chrome azurol S-cetyl trimethyl ammonium bromide absorption photometric method适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中铝量的测定方法。本部分适用于硒中铝量的测定。测定范围：0.000 2％～0.002％。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.6-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 6:Determination of sulfur content—Diphenylcarbazide spectrophotometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中硫量的测定方法。本部分适用于硒中硫量的测定。测定范围：0.000 5%～0.01%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.12-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 12:Determination of selenium content—Sodium thiosulphate titrimetric method适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中硒量的测定方法。 本部分适用于硒中硒量的测定。测定范围：98.0%～99.0%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 519.1-2009 Methods for chemical analysis of arsenic—Part 1:Determination of arsenic content—Potassium bromate titrimetric method适用范围：YS/T 519的本部分规定了砷中砷量的测定方法。 本部分适用于砷中砷量的测定。测定范围：98.0%～99.8%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 519.4-2009 Methods for chemical analysis of arsenic—Part 4:Determination of bismuth,antimony and sulfur content—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry适用范围：YS/T 519的本部分规定了砷中铋、锑、硫量的测定方法。本部分适用于砷中铋、锑、硫量的测定。测定范围：铋：0.01%～0.25%、锑：0.01%～0.65%、硫：0.005%～0.60%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.7-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 7:Determination of magnesium content—Flame atomic absorption spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中镁量的测定方法。本部分适用于硒中镁量的测定。测定范围：0.000 2%～0.02%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 519.3-2009 Methods for chemical analysis of arsenic—Part 3:Determination of sulfur content—Barium sulphate gravimetric method适用范围：YS/T 519的本部分规定了砷中硫量的测定方法。本部分适用于砷中硫量的测定。测定范围：0.10%～0.50%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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译：YS/T 226.8-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 8:Determination of copper content—Flame atomic absorption spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中铜量的测定方法。本部分适用于硒中铜量的测定。测定范围：0.000 2%～0.01%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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现行
译：YS/T 226.10-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 10:Determination of nickel content—Flame atomic absorption spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中镍量的测定方法。本部分适用于硒中镍量的测定。测定范围：0.000 2%～0.01%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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现行
译：YS/T 226.2-2009 Methods for chemical analysis of selenium—Part 2:Determination of antimony content—Hydride generation-atomic fluorescence spectrometry适用范围：YS/T 226的本部分规定了硒中锑量的测定方法。 本部分适用于硒中锑量的测定。测定范围：0.0002%～0.010%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.99其他有色金属及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2009-12-04 | 实施时间： 2010-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 14849.4-2008 Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method适用范围：本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定，测定范围见表1。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.10铝和铝合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-06-09 | 实施时间： 2008-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 4060-2007 Polycrystalline silicon—Examination method—Vacuum zone-melting on boron适用范围：本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。 本标准检测杂质浓度有效范围：0.002×10-9～100×10-9。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2007-09-11 | 实施时间： 2008-02-01收藏
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