适用范围：本文件规定了一氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。本文件适用于工业级一氧化碳经纯化制备的电子用一氧化碳。

适用范围：本文件描述了用硫氰酸盐标准溶液滴定法测定太阳能电池用银浆中银含量的方法。本文件适用于太阳能电池用银浆，包括符合YS/T 612的正面银浆和背面银浆，测定范围为银含量(质量分数)30%~95%。其他导电银浆(例如微电子技术用贵金属浆料)和制作银浆的原料银粉等材料参照使用。注： 参照使用本文件方法测定银粉的银含量(质量分数)时，测定范围上限为99%。

适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶光学性能中色度、辉度和对比度三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

适用范围：本文件规定了羰基硫的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于一氧化碳与硫为原料合成制备的电子用羰基硫。

适用范围：本文件规定了二氧化碳的技术要求、采样、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及安全信息的要求。本文件适用于由高纯二氧化碳经纯化制备的电子用二氧化碳。

适用范围：本文件给出了点扫描法测定平板显示器基板玻璃应力的试验原理，描述了点扫描法的试验装置、试验条件、试样要求、试验步骤、结果表示、试验报告。本文件适用于厚度为0.3 mm~1.1 mm、规格为11代及以下的平板显示器基板玻璃应力测试，其他玻璃材料参考使用。

适用范围：本文件描述了单体液晶纯度、最大杂质、易挥发分、电阻率、水分含量和金属离子浓度的测试方法。本文件适用于单体液晶的生产研发、检验检测和应用验证等。

适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶可靠性中耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能三项指标的测试方法。注： 平板显示用彩色光刻胶的可靠性指标主要包括耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

适用范围：本文件描述了平板显示用彩色光刻胶理化性能中固含量、黏度和后烘残膜率三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

适用范围：本文件描述了平板显示阵列用正性光阻材料的测试方法。 本文件适用于液晶显示器件、有机发光显示器件等显示阵列制造用正性光阻材料的性能测试。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了含温敏性特殊添加剂的六氟磷酸锂电解液的要求、试验方法、检验规则、标志、标签、包装、运输和贮存。本文件适用于含温敏性特殊添加剂的六氟磷酸锂电解液

适用范围：本文件给出了4H-SiC(碳化硅)同质外延片中的缺陷分类。缺陷是按晶体学结构进行分类，并通过明场光学显微术（OM)、光致发光（PL)和X射线形貌(XRT)图像等无损检测方法进行识别。

适用范围：本文件提供了在商用碳化硅（SiC）同质外延片产品上缺陷光学检测的定义和方法。主要是通过给出这些缺陷的光学图像示例，为SiC同质外延片上缺陷的光学检测提供检测和分类的依据。 本文件主要论述缺陷的无损表征方法，因此有损表征例如湿法腐蚀等不包含在本文件范围内。

适用范围：本文件提供了商用碳化硅(4H-SiC)同质外延片生长缺陷光致发光检测的定义和方法。主要是通过光致发光图像示例和发射光谱示例，为SiC同质外延片上缺陷的光致发光检测提供检测和分类的依据。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了钠离子电池用电解液的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、 运输和储存。本文件适用于由电解质钠盐、溶剂等组成的钠离子电池电解液

适用范围：范围:本文件规定了道路车辆用被动电子元件的工作温度范围及等级、技术要求、试验方法、检验规则等内容。 本文件适用于道路车辆用被动电子元件，包括安装在车辆内部特定位置的系统或组件内的元件; 主要技术内容:5.1 通用要求5.1.1 外观检查应力测试前后应检查元件/组件的结构、标识和工艺质量，标识应清晰可见，结构和工艺质量应符合产品详细规范中规定。通过外观检查和6.1.1的试验来检验其是否符合要求。5.1.2 物理尺寸物理尺寸测量结果应符合产品详细规范中规定。通过6.1.2的试验来检验其是否符合要求。5.1.3 电性能参数测试除有特殊说明无需进行电性能参数测试的，其他所有应力测试前后均应进行电性能参数测试。测量值的偏差和变化率等不应超过产品详细规范中规定。通过6.1.3的试验来检验其是否符合要求。5.2 气候环境应力要求5.2.1 高温存储此试验是模拟元件/组件在高温环境下贮存、运输或使用的能力。样品经受6.2.1试验后，进行外观检查及电性能参数测试。外观检查应符合产品详细规范中规定，电性能参数测量值的变化率等不应超过产品详细规范中规定。5.2.2 高温工作寿命此试验是模拟元件/组件在上限类别温度工作状态下的寿命试验。样品经受6.2.2试验时间1000 h后，进行外观检查及电性能参数测试。外观检查应符合产品详细规范中规定，电性能参数测量值的变化率等不应超过产品详细规范中规定。5.2.3 温度变化此试验是验证元件/组件耐受环境温度快速变化的能力。样品经受6.2.3试验后，在1000次循环后进行外观检查及电性能参数测试。外观检查应符合产品详细规范中规定，电性能参数测量值的变化率等不应超过产品详细规范中规定。5.2.4 温度湿度组合循环此试验是验证元件/组件在高温、高湿条件劣化作用下的耐受性能，加速元件/组件失效过程。样品经受6.2.4试验后，允许其在标准大气压条件下恢复，时长按照分规范或相应产品详细规范中规定，恢复后进行外观检查和电性能参数测试。外观检查应符合产品详细规范中规定，电性能参数测量值的变化率等不应超过产品详细规范中规定。5.2.5 恒定湿热（加电偏置）此试验是模拟元件/组件用于高湿条件下贮存、运输和使用时的适应性，验证样品在规定时间内恒定温度、无凝露的高湿环境对试验样品的影响，或者以加速方式验证样品耐湿热劣化效应性能，通常需T/CQAE 21001—20233要

适用范围：本文件规定了厚膜集成电路用银钯导体浆料的产品分类、技术要求、检验方法、检验规则及包装、标志、运输、贮存。本文件适用于由导电相、玻璃相、有机载体以及添加剂组成的能满足印刷特性的厚膜集成电路用银钯导体浆料(以下简称：银钯导体浆料)。

适用范围：本文件规定了片式电阻器用低温固化包封浆料的技术要求、检验方法、检验规则及包装、标志、运输、贮存。 本文件适用于由功能填料、有机载体以及添加剂组成的能满足印刷特性的片式电阻器用低温固化包封浆料（以下简称：低温固化包封浆料）。

适用范围：本文件规定了半导体显示用高碱浓度负胶显影液的缩略语、技术要求、检验方法、检验规则、标志及包装、运输、贮存和安全事项。本文件适用于由氢氧化钾、表面活性剂和水组成，其中氢氧化钾的质量百分比大于8%的半导体显示用高碱浓度负胶显影液。此半导体显示用高碱浓度负胶显影液主要用于半导体制程中负性光刻胶的显影，及薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)或有机发光二极管显示器(OLED)彩膜工艺光刻胶的显影。

适用范围：本文件规定了印制板与印制板组装件平整度控制的要求。本文件适用于刚性印制板与刚性印制板组装件(组装件)设计、制造与使用中平整度的控制。