国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：SJ/T 2658.7-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 7: Radiant Flux【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏 -
现行
译：SJ/T 2658.8-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 8: Radiant Intensity【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.11-2015 Measurement methods for semiconductor infrared emitting diodes - Part 11: Response time【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.2-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 2: Forward Voltage。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 11485-2015【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01收藏
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现行
译：SJ/T 11486-2015 SJ/T 11486-2015 Small Power LED Chip Technical Specification【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01收藏
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现行
译：SJ/T 11458-2013 Performance specifications for LEDs used in liquid crystal display backlight assembly【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2013-10-17 | 实施时间： 2013-12-01收藏
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现行
译：SJ 50033/6-1994 Semiconductor discrete device--Detail specification for semiconductor green light emitting diodes for type GF411 of GP and GT classes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1994-09-30 | 实施时间： 1994-12-01收藏
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现行
译：SJ 20046-1992 General specification for portable non-metallic mine detectors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1992-02-01 | 实施时间： 1992-05-01收藏
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译：SJ 2354.11-1983 Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.3-1983 Method of measurement for dark current of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.12-1983 Method of measurement for temperature factor of reverse breakdown voltage of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.4-1983 Method of measurement for forward voltage drop of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.5-1983 Method of measurement for capacitance of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.6-1983 Method of measurement for responsivity of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.10-1983 Method of measurement for cross-light factor of PIN and avalanche photodiodes matrix【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.2-1983 Method of measurement for reverse break-down voltage of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.8-1983 Method of measurement for pulse rise time and fall time of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.1-1983 General procedures of measurement for electrical and optical parameters of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.13-1983 Method of measurement for multiplication factor of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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