GB/T 15879.613-2026 半导体器件的机械标准化 第6-13部分:密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座的设计指南

GB/T 15879.613-2026 Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 6-13:Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array( FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array( FLGA)

国家标准 中文简体 即将实施 页数:24页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 15879.613-2026
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2026-08-28
实施日期
2027-03-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
适用范围
本文件提供了密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座的设计指南,同时规定了FBGA和FLGA 器件测试和老化用顶部开放式插座的外形图和尺寸。

文前页预览

研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、江苏普诺威电子股份有限公司、江苏长电科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、西安微电子技术研究所、电子科技大学、河北中瓷电子科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、江苏固特电气控制技术有限公司、江苏上达半导体有限公司
起草人:
郑镔、彭博、杨飞、郎平、钟鑫、杨程、齐筱、周海、聂宝林、赵东亮、周斌、殷孜、孙彬
出版信息:
页数:24页 | 字数:33 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL55

中华人民共和国国家标准

GB/T15879.613—2026/IEC60191⁃6⁃13:2016

半导体器件的机械标准化

第6⁃13部分:密节距焊球阵列封装

(FBGA)和密节距焊盘阵列封装

(FLGA)顶部开放式插座的设计指南

Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices—

Part6⁃13:Designguidelineofopen⁃top⁃typesocketsforFine⁃pitchBallGrid

Array(FBGA)andFine⁃pitchLandGridArray(FLGA)

(IEC60191⁃6⁃13:2016,IDT)

2026⁃08⁃28发布2027⁃03⁃01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会发布

GB/T15879.613—2026/IEC60191⁃6⁃13:2016

目次

前言··························································································································Ⅲ

引言··························································································································Ⅳ

1范围·······················································································································1

2规范性引用文件········································································································1

3术语和定义··············································································································1

4插座编码·················································································································1

4.1插座编码组成·····································································································1

4.2符号·················································································································2

5引出端编号··············································································································3

6插座标称尺寸···········································································································3

7插座长度和宽度········································································································3

8参考符号和示意图·····································································································3

8.1外形图··············································································································3

8.2推荐的印制电路板上插座安装方式示意图和符号························································5

8.3全部尺寸···········································································································5

8.4印制电路板上插座安装尺寸··················································································11

9独立外形图标准注册································································································11

GB/T15879.613—2026/IEC60191⁃6⁃13:2016

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

本文件是GB/T15879《半导体器件的机械标准化》的第6⁃13部分。GB/T15879已经发布了以下

部分:

——第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系;

——第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值;

——第6⁃3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则四边扁平封装(QFP)的尺寸

测量方法;

——第6⁃4部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则焊球阵列(BGA)封装的尺寸

测量方法;

——第6⁃12部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则密节距焊盘阵列封装(FLGA)

的设计指南;

——第6⁃13部分:密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座

的设计指南;

——第6⁃16部分:焊球阵列封装(BGA)、焊盘阵列封装(LGA)、密节距焊球阵列封装(FBGA)和

密节距焊盘阵列封装(FLGA)的半导体试验和老化插座术语表;

——第6⁃18部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则焊球阵列封装(BGA)的设

计指南;

——第6⁃20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则小外形J形引线封装(SOJ)

尺寸测量方法。

本文件等同采用IEC60191⁃6⁃13:2016《半导体器件的机械标准化第6⁃13部分:密节距焊球阵列

封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座的设计指南》。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动:

——增加了4.1示例中代码的各组成部分的含义说明;

——按国内机械制图要求调整了图1和图3中视图方向。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。

本文件起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、江苏普诺威电子股份有限公司、江苏长电

科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、西安微电子技术研究所、电子科技大学、河北中瓷电

子科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、江苏固特电气控制技术有限公司、江苏上达半

导体有限公司。

本文件主要起草人:郑镔、彭博、杨飞、郎平、钟鑫、杨程、齐筱、周海、聂宝林、赵东亮、周斌、殷孜、

孙彬。

GB/T15879.613—2026/IEC60191⁃6⁃13:2016

引言

GB/T15879《半导体器件的机械标准化》拟由23个部分构成,主要包括半导体器件外形图绘制的

尺寸符号和定义、图纸绘制规则、封装外形分类和编码体系,以及各类半导体器件标准封装的标准外形

图和推荐尺寸范围。

——第1部分:半导体外形图绘制。目的在于规定半导体器件外形图绘制的尺寸符号和定义、绘

制规则和实例等。

——第2部分:外形尺寸。目的在于规定各类半导体器件封装产品的外形尺寸要求。

——第3部分:集成电路外形图绘制总则。目的在于规定集成电路外形图绘制的尺寸符号代码和

定义、绘制规则和实例等。

——第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系。目的在于规定半导体器件封装外形的分

类、型号命名和编码体系。

——第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值。目的在于规定集成电路载带自动焊产

品的封装尺寸推荐值。

——第6部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则。目的在于规定表面安装半导体

器件封装外形图绘制的通用要求和规则。

——第6⁃1部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则翼形引线设计指南。目的在

于规定翼形引出端的标准外形图、尺寸和推荐范围值。

——第6⁃2部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则1.50mm、1.27mm、1.00mm

节距的焊球和焊柱阵列封装设计指南。目的在于规定1.50mm、1.27mm、1.00mm节距的焊

球和焊柱阵列封装的标准外形图、尺寸和推荐范围值。

——第6⁃3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则四边扁平封装(QFP)的尺寸

测量方法。目的在于规定四边扁平封装(QFP)外形尺寸的测量方法。

——第6⁃4部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则焊球阵列(BGA)封装的尺寸

测量方法。目的在于规定焊球阵列封装(BGA)外形尺寸的测量方法。

——第6⁃5部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则密节距焊球阵列封装(FBGA)

设计指南。目的在于规定密节距焊球阵列封装(FBGA)外形尺寸的设计指南。

——第6⁃6部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则密节距焊盘阵列封装(FLGA)

设计指南。目的在于规定密节距焊盘阵列封装(FLGA)外形尺寸的设计指南。

——第6⁃8部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则玻璃密封陶瓷四边扁平封装

(G⁃QFP)的设计指南。目的在于规定玻璃密封陶瓷四边扁平封装(G⁃QFP)的标准外形图、

尺寸和推荐范围值。

——第6⁃10部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则塑料很薄小外形无引线封

装(P⁃VSON)的尺寸。目的在于规定塑料很薄小外形无引出端封装(P⁃VSON)的标准外形

图、尺寸和推荐范围值。

——第6⁃12部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则密节距焊盘阵列封装

(FLGA)的设计指南。目的在于规定密节距焊盘阵列封装(FLGA)的标准外形图、尺寸和推

荐范围值。

——第6⁃13部分:密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座

的设计指南。目的在于规定密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶

GB/T15879.613—2026/IEC60191⁃6⁃13:2016

部开放式插座的标准外形图、尺寸和推荐范围值。

——第6⁃16部分:焊球阵列封装(BGA)、焊盘阵列封装(LGA)、密节距焊球阵列封装(FBGA)和

密节距焊盘阵列封装(FLGA)的半导体试验和老化插座术语表。目的在于规定焊球阵列封

装(BGA)、焊盘阵列封装(LGA)、密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装

(FLGA)半导体试验和老化插座术语定义。

——第6⁃17部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则叠层封装设计指南⁃密节距

焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)。目的在于规定密节距焊球阵列封装

(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)的标准外形图、尺寸和推荐范围值。

——第6⁃18部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则焊球阵列封装(BGA)的设

计指南。目的在于规定焊球阵列封装(BGA)的标准外形图、尺寸和推荐范围值。

——第6⁃19部分:高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度。目的在于规定高温封装翘

曲和最大允许翘曲的尺寸测量方法。

——第6⁃20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则小外形J形引线封装(SOJ)

尺寸测量方法。目的在于规定小外形J形引线封装(SOJ)的尺寸测量方法。

——第6⁃21部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则小外形封装(SOP)尺寸测

量方法。目的在于规定小外形封装(SOP)的尺寸测量方法。

——第6⁃22部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则硅密节距焊球阵列封装(S⁃

FBGA)和硅密节距焊盘阵列封装(S⁃FLGA)的设计指南。目的在于规定硅密节距焊球阵列

封装(S⁃FBGA)和硅密节距焊盘阵列封装(S⁃FLGA)的标准外形图、尺寸和推荐范围值。

GB/T15879.613—2026/IEC60191⁃6⁃13:2016

半导体器件的机械标准化

第6⁃13部分:密节距焊球阵列封装

(FBGA)和密节距焊盘阵列封装

(FLGA)顶部开放式插座的设计指南

1范围

本文件提供了密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座的设

计指南,同时规定了FBGA和FLGA器件测试和老化用顶部开放式插座的外形图和尺寸。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文

件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于

本文件。

IEC60191⁃2半导体器件的机械标准化第2部分:尺寸(Mechanicalstandardizationofsemicon⁃

ductordevices—Part2:Dimensions)

IEC60191⁃6半导体器件的机械标准化第6部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一

般规则(Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices—Part6:Generalrulesforthepreparationof

outlinedrawingsofsurfacemountedsemiconductordevicepackages)

3术语和定义

IEC60191⁃6界定的术语和定义适用于本文件。

4插座编码

4.1插座编码组成

插座编码示例如下。

1

定制服务

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