GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法

ICS27.120

F88

中华人民共和国国家标准

/—

GBT52012012

代替/—

GBT52011994

带电粒子半导体探测器测量方法

Testroceduresforsemiconductorcharedarticledetectors

pgp

(:—

IEC603331993NuclearinstrumentationSemiconductorcharedarticle

gp

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detectorsTestroceduresNEQ

p

2012-06-29发布2012-11-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT52012012

前言

本标准按照/—给出的规则起草。

GBT1.12009

/—《》,/—

本标准代替GBT52011994带电粒子半导体探测器测试方法本标准与GBT52011994

(),:

以下简称原标准相比主要技术变化如下

———增加了前言;

———“”,;

增加了第章规范性引用文件其他章的编号依次后推

2

———“、”“”,/—,

将原标准术语符号改为第章术语和定义并完全引用