适用范围：本标准规定了粉煤灰中二氧化硅含量的X射线荧光分析方法。 本标准适用于粉煤灰中二氧化硅含量的测定。

适用范围：本部分规定了直接还原铁中锰含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中锰含量的测定。测定范围（质量分数）：0.10 %～2.00 %。

适用范围：本部分规定了直接还原铁中氧化钙、氧化镁、氧化钾、氧化钠、锰、铜含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中氧化钙、氧化镁、氧化钾、氧化钠、锰、铜含量的测定。测定范围（质量分数）：锰0.10 %～2.00 %；氧化钙0.10 %～2.00 %；氧化镁0.050 %～2.00 %；铜、氧化钾、氧化钠0.010 %～0.50 %。

适用范围：本部分规定了直接还原铁中全铁含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中全铁含量的测定。测定范围（质量分数）：≥50 %。

适用范围：本部分规定了直接还原铁中硅含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中硅含量的测定。测定范围（质量分数）：0.50 %～5.00 %。

适用范围：本部分规定了直接还原铁中氧化钙、氧化镁、氧化铝含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中氧化钙、氧化镁、氧化铝含量的测定。测定范围（质量分数）：氧化钙2.00 %～10.00 %；氧化镁2.00 %～10.00 %；氧化铝 1.00 %～10.00 %。

适用范围：本部分规定了直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、磷、氧化铝、锰、二氧化钛、氧化钾、铜含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、磷、氧化铝、锰、二氧化钛、氧化钾、铜含量的测定。各组分测定范围（质量分数）见表1。 表1各组分测定范围 组分 测定范围（质量分数）/% SiO2 0.25～10.00 CaO 0.10～10.00 MgO 0.10～10.00 P 0.010～2.00 Al2O3 0.10～14.00 Mn 0.10～5.00 TiO2 0.010～10.00 K2O

适用范围：本部分规定了直接还原铁中磷含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中磷含量的测定。测定范围（质量分数）：0.010 %～0.50 %。

适用范围：本标准规定了用安装在扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数(百分数)表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分，因此，本标准也包含这方面的内容。本标准提供了多种能谱法定量分析方法，本标准适用于利用参考物质或“无标样”程序对质量分数高于1％的元素进行定量分析。本标准对原子序数大于10的元素的分析置信度更高。 本标准也规定了对原子序数小于11的轻元素的分析方法。 注： 当没有重叠峰，并且相应的特征X射线被强烈地激发时，能谱仪也可以测量质量分数在0.1％水平的元素。本标准主要应用于表面平整试样的定量分析，基本方法也适用于表面不平整试样的分析，但会引入附加的不确定度分量。 目前没有公认的轻元素的准确能谱仪（EDS）定量分析方法，以下是几种常用于轻元素分析的EDS方法： a)测量峰面积并对比峰强度。如附录D中所述的原因，这种方法对轻元素分析结果的不确定度比重元素大。 b)当已知试样中的轻元素以化学计量的方式与重元素(Z>10)结合时，该轻元素的浓度可以通过与其他元素的相关浓度比进行测定。这种方法通常用于硅酸盐矿物试样中氧的测定。 c)通过差值法计算浓度，即用100％减去能够分析元素的总百分数即为轻元素的百分数。这种方法只有在很好的束流稳定性和单独测量至少一个参考样品的条件下才能够应用，并且还需要精确测定样品中的其他元素。 附录D总结了重元素存在时轻元素定量分析中的问题。如果仪器上安装了能谱仪和波谱仪(WDS)，可以用WDS来克服EDS分析中的低能量谱峰重叠问题。

适用范围：本标准规定了透射电子显微镜检测含有SiO2、TiO2、Fe3O4及Al2O3纳米颗粒材料的生物试样的技术和规范。 本标准适用于SiO2、TiO2、Fe3O4及Al2O3纳米颗粒材料的生物效应透射电镜检测的生物薄试样超微结构分析。

适用范围：本标准规定了透射电子显微镜检测纳米材料生物性样品的技术和规范。 本标准适用于纳米材料生物效应透射电镜检测的超微结构分析。

适用范围：本标准规定了家用卫生杀虫用品的烟尘量试验方法。 本标准适用于固态燃香及烟制剂产品。

适用范围：本标准规定了铸造用硅砂化学分析试样的制备及试验方法。 本标准适用于铸造用天然硅砂、精选石英砂和人造石英砂的二氧化硅、氧化铝、氧化铁、氧化钛、氧化钙、氧化镁、氧化钾、氧化钠含量分析和酸耗值的测定。 本标准中并列的测定方法，可根据具体情况选用。

适用范围：本标准规定了扫描电镜能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。 本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定，并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析。