19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 17573-2026 半导体器件 总则 现行
    译:GB/T 17573-2026 Semiconductor devices—General
    适用范围:本文件规定了适用于IEC 60747其他部分及IEC 60748(所有部分)所涵盖的半导体分立器件和集成电路的通用要求(见附录A)。 注:本文件与上一版(1998年版)章条结构的比较见附录B。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-03-31 | 实施时间: 2026-10-01
  • GB/T 42706.8-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第8部分:无源电子器件 现行
    译:GB/T 42706.8-2026 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 8:Passive electronic devices
    适用范围:本文件适用于长期贮存的无源电子器件,能作为延缓淘汰策略的一部分。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。通常原始供应商将产品贴上包装日期或日期代码后才开始贮存。经销商和客户都有责任在收到标有日期的产品后控制和管理库存,或者建立供应商-客户协议来管理库存。本文件提供了有效进行无源电子器件长期贮存的原则、良好工作实践和一般方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.28-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级 现行
    译:GB/T 4937.28-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Charged device model(CDM)—device level
    适用范围:本文件依据元器件和微电路对规定的带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度,建立了元器件和微电路的ESD测试、评价、分级的程序。本文件适用于评价所有半导体封装器件、薄膜电路、声表面波(SAW)器件、光电器件、混合集成电路(HICs)及包括任意这些器件的多芯片组件(MCMs)。为进行测试,元器件需装配在与终端应用相似的封装中。本文件涉及的CDM模型不适用于插座式放电模型测试设备。本文件描述了场感应(FI)方法,另一种能作为替代的直接接触(DC)法见附录J。 本文件的目的是建立一种能够复现CDM失效并为不同测试设备间提供可靠、可重复的CDM ESD测试结果且不区分器件类型的测试方法。重复性数据保证了CDM ESD敏感度等级的准确划分及对比。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 15651.13-2026 半导体器件 第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验 现行
    译:GB/T 15651.13-2026 Semiconductor devices—Part 5-13:Optoelectronic devices—Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
    适用范围:本文件为评价因硫化氢导致的发光二极管(LED)封装银和银合金变色提供了一种加速试验方法,目的是确定银和银合金变色对LED封装光通量和辐射通量维持率的影响提供相关信息。此外,该试验方法能够为LED封装的电性能因受到银和银合金腐蚀的影响提供相关信息。 试验的目的是确定硫化氢气体对LED封装材料的影响: ——银或银合金; ——有其他保护层的银或银合金; ——用银或银合金覆盖的金属。 本文件不包含因其他因素退化导致的光通量维持率、辐射通量维持率和电性能(例如,铜或硅酮部件的降解)变化。 本文件仅适用于照明应用的LED封装。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 5078-2026 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 现行
    译:GB/T 5078-2026 Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with unidirectional terminations
    适用范围:本文件适用于电子设备用的单向引出的电容器和电阻器。 本文件对单向引出的电容器和电阻器所需空间的测量方法进行了规定。 注:本方法能代替实际空间的测量。采用固定式量规的测量方法,能确保元件装入其所设计的最大空间。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L13电阻器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 38001.63-2026 柔性显示器件 第6-3部分:机械试验方法 撞击和硬度试验 现行
    译:GB/T 38001.63-2026 Flexible display devices—Part 6-3:Mechanical test methods—Impact and hardness tests
    适用范围:本文件描述了柔性显示器件机械可靠性的标准试验方法,特别针对柔性显示器件受到外力作用的撞击和硬度的机械可靠性。 本文件适用于评价基于液晶显示、电子纸和有机发光二极管显示技术在内的柔性显示模块(以下简称“显示模块”)的机械可靠性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 42706.7-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第7部分:微电子机械器件 现行
    译:GB/T 42706.7-2026 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 7:Micro-electromechanical devices
    适用范围:本文件规定了微电子机械器件(MEMS)长期贮存方法和推荐条件,包括运输、控制以及贮存设施安全。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件也提供了有效进行微电子机械器件长期贮存的原则、良好工作实践和一般方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.41-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法 现行
    译:GB/T 4937.41-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices
    适用范围:本文件确立了非易失性存储器(以下简称“器件”)根据鉴定规范进行有效的耐久性、数据保持和交叉温度试验的程序。耐久性和数据保持鉴定规范鉴定要求(针对循环计数、保持时间、温度和样本量)参考JESD47或者类似JESD94中的方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47239.9-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法 现行
    译:GB/T 47239.9-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9:Performance testing methods of one transistor and one resistor(1T1R) resistive memory cells
    适用范围:本文件描述了一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元的性能测试方法。本文件中的性能测试方法所测试的性能包括读、电预处理、置位、复位、耐久性和保持性。 本文件适用于柔性和刚性电阻存储器件,且不受器件的工艺和尺寸限制。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 249-2026 半导体分立器件型号命名方法 现行
    译:GB/T 249-2026 Rule of type designation for discrete semiconductor devices
    适用范围:本文件规定了半导体分立器件型号的命名方法。 本文件适用于各种半导体分立器件的型号命名。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47240.4-2026 半导体器件 人体通信半导体接口 第4部分:胶囊内窥镜 现行
    译:GB/T 47240.4-2026 Semiconductor devices—Semiconductor interface for human body communication—Part 4:Capsule endoscope
    适用范围:本文件规定了使用电流耦合人体通信的胶囊内窥镜半导体接口电气性能的通用要求,包括接口的一般要求和功能要求。本文件涵盖的半导体接口是在人体内的胶囊内窥镜和人体外接收设备中的人体通信调制解调器之间处理或传输电信号的接口。 注: 使用人体通信胶囊内窥镜的其他信息见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.9-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性 现行
    译:GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
    适用范围:本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。 本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。 注1:本试验不适用于激光打标。 许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。 注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 现行
    译:GB/T 47239.8-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory
    适用范围:本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法,包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性,而不是可靠性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47240.1-2026 半导体器件 人体通信半导体接口 第1部分:总则 现行
    译:GB/T 47240.1-2026 Semiconductor devices—Semiconductor interface for human body communication—Part 1:General requirements
    适用范围:本文件规定了人体通信(HBC)中使用的半导体接口的通用要求,包括接口的功能要求、极限值,以及工作条件要求。 注:关于HBC人体通信的补充资料见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 7247.12-2026 激光产品的安全 第12部分:用于信息传输的自由空间光通信系统的安全 现行
    译:GB/T 7247.12-2026 Safety of laser products—Part 12:Safety of free space optical communication systems used for transmission of information
    适用范围:本文件规定了用于信息传输自由空间光通信系统(FSOCS)的安全运行和维护的要求。 本文件适用于为实现自由空间光数据传输而发射激光辐射的产品。 本文件不适用于材料加工或医疗等应用中用于传输光功率的激光产品,在爆炸性环境中使用的激光产品(见IEC 60079-0),以及自由空间光通信系统中用于自由空间光数据传输的发光二极管。 注1:如果激光产品包含由系统或封闭空间的限制区域中延伸出来的光纤,则适用IEC 60825-2中的要求。 注2:有关中国市场的产品标识的内容见GB 44703。 注3:自由空间光通信系统的具体介绍见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L51激光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-01-28 | 实施时间: 2026-08-01
  • GB/Z 102.17-2026 半导体器件 分立器件 第17部分:基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容耦合器 现行
    译:GB/Z 102.17-2026 Semiconductor devices—Discrete devices—Part 17:Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
    适用范围:本文件规定了磁耦合器和电容耦合器的术语、基本额定值、特性、安全试验及测试方法,确定了基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容耦合器的原理、隔离要求以及隔离特性。 本文件适用于各类采用磁性或电容耦合原理实现电路间信号传输与电气隔离的半导体器件。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-01-04 | 实施时间: -
  • GB/T 44937.3-2025 集成电路 电磁发射测量 第3部分:辐射发射测量 表面扫描法 现行
    译:GB/T 44937.3-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3:Measurement of radiated emissions—Surface scan method
    适用范围:本文件描述了评估集成电路(IC)表面或附近的近电场、近磁场或近电磁场分量的测量方法。本测量方法旨在用于IC的架构分析,例如平面规划和配电优化。本测量方法也适用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC。某些情况下,本测量方法不仅能扫描IC,还能扫描IC的环境。为了对比不同IC的表面扫描发射,宜使用IEC 61967-1规定的标准试验板。 本测量方法提供了IC上方的电场或磁场的近场发射图。测量探头的性能和探头定位系统的精度决定了测量的分辨率。本方法预期使用的最高频率为6 GHz。使用现有探头技术可以扩展上限频率范围,但这超出了本文件的范围。测量能在频域进行,也能在时域进行。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-12-31 | 实施时间: 2026-07-01
  • GB/T 6346.2301-2025 电子设备用固定电容器 第23-1部分:空白详细规范表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ 现行
    译:GB/T 6346.2301-2025 Fixed capacitors for use in electronic equipment—Part 23-1:Blank detail specification—Fixed metallized polyethylene naphthalate film dielectric surface mount DC capacitors—Assessment level EZ
    适用范围:本文件规定了表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器基于评定水平EZ的性能检验的要求。 本文件适用于表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.060.30纸介电容器和塑料膜电容器 【中国标准分类号(CCS)】 :L11电容器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-12-31 | 实施时间: 2026-07-01
  • GB/T 46809.1-2025 半导体器件 第19-1部分:智能传感器 智能传感器的控制方案 现行
    译:GB/T 46809.1-2025 Semiconductor devices—Part 19-1:Smart sensors—Control scheme of smart sensors
    适用范围:本文件规定了利用数字处理单元和传感器与外部终端模块之间双向通信手段实现传感功能、数据处理功能和数据输出功能的传感器的控制方案。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L10/34电子元件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-12-31 | 实施时间: 2026-07-01
  • GB/T 27700.2-2025 有质量评定的声表面波滤波器 第2部分:使用指南 现行
    译:GB/T 27700.2-2025 Surface acoustic wave(SAW) filters of assessed quality—Part 2:Guidelines for the use
    适用范围:本文件给出了声表面波滤波器在电信、测量设备、雷达系统和消费类产品使用中的实践指导。一般信息、标准值和测试条件参见IEC 60862-1。 声表面波滤波器目前被广泛应用于电视、卫星通信、光纤和移动通信等领域。由于这些声表面波滤波器具有各种不同的性能指标,所以可以被划分成一些基本类别。 本文件包括各种结构的声表面波滤波器,其工作频率范围大约为10 MHz~3.5 GHz,相对带宽为0.02%~50%。 本文件的目的不在于解释原理,也不试图涵盖实际情况下所有可能发生的问题。本文件旨在就用户订购一种新用途声表面波滤波器之前需考虑的一些基本问题加以阐述,从而使用户获得性能符合要求的产品。 IEC 60862(所有部分)给出的规范以及由生产商发布的详细规范,规定了标称频率、通带带宽、通带波动、矩形系数以及终端阻抗等指标。这些规范列举了大量的具有典型性能的各种声表面波滤波器。不能过分强调用户在任何情况下都应从这些规范中选择声表面波滤波器。当有条件时,用户可以稍微改变其电路,以便能够使用标准的声表面波滤波器,特别是对标称频率的选择。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L21石英晶体、压电元件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-12-31 | 实施时间: 2026-07-01