19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 11499-2026 半导体分立器件文字符号 即将实施
    译:GB/T 11499-2026 Letter symbols for discrete semiconductor devices
    适用范围:本文件界定了半导体分立器件包括整流二极管,信号、开关和调整二极管,晶闸管,双极型晶体管,场效应晶体管,绝缘栅双极晶体管,绝缘功率半导体器件和微波应用中的二极管和晶体管的文字符号。 本文件适用于半导体分立器件有关标准和产品技术资料的编写。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-03-31 | 实施时间: 2026-10-01
  • GB/T 47326-2026 北斗/全球卫星导航系统(GNSS)宽带射频芯片性能要求及测试方法 即将实施
    译:GB/T 47326-2026 Performance requirements and test methods for wideband RF chip of BDS/GNSS
    适用范围:本文件规定了北斗/全球卫星导航系统(GNSS)宽带射频芯片的性能要求,描述了相应的测试方法。 本文件适用于北斗/全球卫星导航系统(GNSS)多通道多频点的宽带射频芯片(以下简称“宽带射频芯片”)的研制、生产和检测。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.190电子元器件组件 【中国标准分类号(CCS)】 :V04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-03-31 | 实施时间: 2026-07-01
  • GB/T 17573-2026 半导体器件 总则 即将实施
    译:GB/T 17573-2026 Semiconductor devices—General
    适用范围:本文件规定了适用于IEC 60747其他部分及IEC 60748(所有部分)所涵盖的半导体分立器件和集成电路的通用要求(见附录A)。 注:本文件与上一版(1998年版)章条结构的比较见附录B。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-03-31 | 实施时间: 2026-10-01
  • GB/T 5078-2026 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 即将实施
    译:GB/T 5078-2026 Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with unidirectional terminations
    适用范围:本文件适用于电子设备用的单向引出的电容器和电阻器。 本文件对单向引出的电容器和电阻器所需空间的测量方法进行了规定。 注:本方法能代替实际空间的测量。采用固定式量规的测量方法,能确保元件装入其所设计的最大空间。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L13电阻器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 4937.28-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级 即将实施
    译:GB/T 4937.28-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Charged device model(CDM)—device level
    适用范围:本文件依据元器件和微电路对规定的带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度,建立了元器件和微电路的ESD测试、评价、分级的程序。本文件适用于评价所有半导体封装器件、薄膜电路、声表面波(SAW)器件、光电器件、混合集成电路(HICs)及包括任意这些器件的多芯片组件(MCMs)。为进行测试,元器件需装配在与终端应用相似的封装中。本文件涉及的CDM模型不适用于插座式放电模型测试设备。本文件描述了场感应(FI)方法,另一种能作为替代的直接接触(DC)法见附录J。 本文件的目的是建立一种能够复现CDM失效并为不同测试设备间提供可靠、可重复的CDM ESD测试结果且不区分器件类型的测试方法。重复性数据保证了CDM ESD敏感度等级的准确划分及对比。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 15651.13-2026 半导体器件 第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验 即将实施
    译:GB/T 15651.13-2026 Semiconductor devices—Part 5-13:Optoelectronic devices—Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
    适用范围:本文件为评价因硫化氢导致的发光二极管(LED)封装银和银合金变色提供了一种加速试验方法,目的是确定银和银合金变色对LED封装光通量和辐射通量维持率的影响提供相关信息。此外,该试验方法能够为LED封装的电性能因受到银和银合金腐蚀的影响提供相关信息。 试验的目的是确定硫化氢气体对LED封装材料的影响: ——银或银合金; ——有其他保护层的银或银合金; ——用银或银合金覆盖的金属。 本文件不包含因其他因素退化导致的光通量维持率、辐射通量维持率和电性能(例如,铜或硅酮部件的降解)变化。 本文件仅适用于照明应用的LED封装。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 18663.6-2026 电气和电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第6部分:户内机柜的安全要求 即将实施
    译:GB/T 18663.6-2026 Mechanical structures for electrical and electronic equipment—Tests for metric and inch system—Part 6:Security aspects for indoor cabinets
    适用范围:本文件规定了符合IEC 60917(所有部分)和IEC 60297(所有部分)户内机柜机械结构的安全要求和安全性能等级。本文件不涉及故意破坏行为。 注:防止故意破坏的保护通常由用户的特定要求进行规定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.240电子设备用机械构件 【中国标准分类号(CCS)】 :K05电工产品机械结构
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 42706.8-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第8部分:无源电子器件 即将实施
    译:GB/T 42706.8-2026 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 8:Passive electronic devices
    适用范围:本文件适用于长期贮存的无源电子器件,能作为延缓淘汰策略的一部分。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。通常原始供应商将产品贴上包装日期或日期代码后才开始贮存。经销商和客户都有责任在收到标有日期的产品后控制和管理库存,或者建立供应商-客户协议来管理库存。本文件提供了有效进行无源电子器件长期贮存的原则、良好工作实践和一般方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 38001.63-2026 柔性显示器件 第6-3部分:机械试验方法 撞击和硬度试验 即将实施
    译:GB/T 38001.63-2026 Flexible display devices—Part 6-3:Mechanical test methods—Impact and hardness tests
    适用范围:本文件描述了柔性显示器件机械可靠性的标准试验方法,特别针对柔性显示器件受到外力作用的撞击和硬度的机械可靠性。 本文件适用于评价基于液晶显示、电子纸和有机发光二极管显示技术在内的柔性显示模块(以下简称“显示模块”)的机械可靠性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 42706.7-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第7部分:微电子机械器件 即将实施
    译:GB/T 42706.7-2026 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 7:Micro-electromechanical devices
    适用范围:本文件规定了微电子机械器件(MEMS)长期贮存方法和推荐条件,包括运输、控制以及贮存设施安全。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件也提供了有效进行微电子机械器件长期贮存的原则、良好工作实践和一般方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 40815.6-2026 电气和电子设备机械结构 符合英制系列和公制系列机柜的热管理 第6部分:户内机柜的空气再循环和旁路 即将实施
    译:GB/T 40815.6-2026 Mechanical structures for electrical and electronic equipment—Thermal management for cabinets in accordance with inch and metric system—Part 6:Air recirculation and bypass of indoor cabinets
    适用范围:本文件涉及符合IEC 60297和IEC 60917系列机柜的热管理,提供了再循环率和旁路率的兼容测量方法,这些测量方法是定义强迫风冷中气流质量的指标,能普遍适用于安装插箱和/或基于机箱设备的户内机柜。 注1: 再循环和旁路都表示泄漏气流,即冷却效率方面的有害现象;其测量显然是为了缓解这种情况。 本文件包含以下内容: a)机柜冷却中再循环和旁路流量的定义; b)再循环率RC的等级; c)机柜中安装的强迫风冷插箱和/或基于机箱设备的再循环率RCs的定义公式; d)整个机柜的再循环率RCr和旁路率BPr的定义公式; e)计算再循环率RCs、RCr和旁路率BPr所需的每个温度测量方法的要求。 注2:本文件包括测量旁路率的规定,但不包括旁路率水平的规定。 所用示意图无意于指导产品设计,仅在界定强迫风冷气流时用于解释性说明。 本文件中涉及的再循环和旁路测量方法假定适用于户内安装的机柜。冷却空气入口位于机柜的前面或底面,被加热的空气排至后面或顶面。这些方法也适用于安装在户外并在前面或背面装有热交换器或空调等冷却装置的机柜(见附录C)。 插箱或机柜的再循环率是为机柜中安装的每个单独插箱或基于机箱的设备或整个机柜定义的。机柜的旁路率是为整个机柜定义的。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.240电子设备用机械构件 【中国标准分类号(CCS)】 :K05电工产品机械结构
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47158-2026 标称电压1 000 V以上交流系统用自愈式并联电力电容器 即将实施
    译:GB/T 47158-2026 Shunt power capacitors of the self-healing type for AC systems having a rated voltage above 1 000 V
    适用范围:本文件规定了标称电压1 000 V以上交流系统用自愈式并联电力电容器的使用条件、质量要求、试验分类、绝缘水平、标志、安装和运行导则等要求,描述了相应试验方法。 本文件适用于标称电压1 000 V以上、频率15 Hz~60 Hz的交流电力系统中,专门用来改善功率因数的自愈式电容器单元和自愈式电容器组。 本文件不适用于下列电容器: ——标称电压1 000 V及以下交流系统用自愈式并联电力电容器[见GB/T 12747(所有部分)]; ——标称电压1 000 V及以下交流系统用非自愈式并联电力电容器[见GB/T 17886(所有部分)]; ——标称电压1 000 V以上交流电力系统用非自愈式并联电容器[见GB/T 11024(所有部分)]; ——感应加热装置用电力电容器[见GB/T 3984(所有部分)]; ——串联电容器[见GB/T 6115(所有部分)]; ——交流电动机电容器[见GB/T 3667(所有部分)]; ——耦合电容器及电容分压器[见GB/T 19749(所有部分)]; ——电力电子电容器(见GB/T 17702); ——荧光灯和放电灯用小型交流电容器(GB/T 18489和GB/T 18504); ——抑制无线电干扰用电容器; ——拟用于各种电气设备并作为组件的电容器; ——拟在叠加有交流电压的直流电压下使用的电容器。 各附属器件,诸如绝缘子、开关、互感器、外部熔断器、外部保护器等的要求在相应的文件中给出,但 不包含在本文件的范围内。 本文件的目的是: a) 阐述关于自愈式电容器单元和电容器组性能、定额及自愈式电容器单元试验的统一规则; b) 阐述特殊的安全规则; c) 提供安装和运行导则。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.060.70电力电容器 【中国标准分类号(CCS)】 :K42电力电容器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 47240.4-2026 半导体器件 人体通信半导体接口 第4部分:胶囊内窥镜 即将实施
    译:GB/T 47240.4-2026 Semiconductor devices—Semiconductor interface for human body communication—Part 4:Capsule endoscope
    适用范围:本文件规定了使用电流耦合人体通信的胶囊内窥镜半导体接口电气性能的通用要求,包括接口的一般要求和功能要求。本文件涵盖的半导体接口是在人体内的胶囊内窥镜和人体外接收设备中的人体通信调制解调器之间处理或传输电信号的接口。 注: 使用人体通信胶囊内窥镜的其他信息见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 249-2026 半导体分立器件型号命名方法 即将实施
    译:GB/T 249-2026 Rule of type designation for discrete semiconductor devices
    适用范围:本文件规定了半导体分立器件型号的命名方法。 本文件适用于各种半导体分立器件的型号命名。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47239.9-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法 即将实施
    译:GB/T 47239.9-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9:Performance testing methods of one transistor and one resistor(1T1R) resistive memory cells
    适用范围:本文件描述了一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元的性能测试方法。本文件中的性能测试方法所测试的性能包括读、电预处理、置位、复位、耐久性和保持性。 本文件适用于柔性和刚性电阻存储器件,且不受器件的工艺和尺寸限制。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.41-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法 即将实施
    译:GB/T 4937.41-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices
    适用范围:本文件确立了非易失性存储器(以下简称“器件”)根据鉴定规范进行有效的耐久性、数据保持和交叉温度试验的程序。耐久性和数据保持鉴定规范鉴定要求(针对循环计数、保持时间、温度和样本量)参考JESD47或者类似JESD94中的方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.9-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性 即将实施
    译:GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
    适用范围:本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。 本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。 注1:本试验不适用于激光打标。 许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。 注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 即将实施
    译:GB/T 47239.8-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory
    适用范围:本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法,包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性,而不是可靠性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47240.1-2026 半导体器件 人体通信半导体接口 第1部分:总则 即将实施
    译:GB/T 47240.1-2026 Semiconductor devices—Semiconductor interface for human body communication—Part 1:General requirements
    适用范围:本文件规定了人体通信(HBC)中使用的半导体接口的通用要求,包括接口的功能要求、极限值,以及工作条件要求。 注:关于HBC人体通信的补充资料见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 6115.1-2026 电力系统用串联电容器 第1部分:总则 即将实施
    译:GB/T 6115.1-2026 Series capacitors for power systems—Part 1:General
    适用范围:本文件规定了电力系统用串联电容器的性能、试验、定额、安全要求及安装和运行导则。 本文件适用于拟串联连接在频率为15 Hz~60 Hz交流电力系统的输电或配电线路中,成为其组 成部分的电容器单元和电容器组。 本文件主要适用于输电系统。 串联电容器单元和电容器组通常用于接入高压电力系统。本文件适用于整个电压范围。 本文件不适用于自愈式金属化电介质类型的电容器。 下列电容器即使其与回路串联连接也不适用于本文件: ———感应加热装置用电容器(见GB/T 3984.1); ———交流电动机电容器及其类似应用[见GB/T 3667(所有部分)]; ———电力电子电容器(见GB/T 17702); ———管形荧光灯和其他放电灯线路用电容器(见GB/T 18489和GB/T 18504)。 注1:对有内部熔丝保护的电容器的附加要求以及对内部熔丝的要求见GB/T 6115.3—××××和附录C。 注2:对用外部熔断器保护的电容器的附加要求及对外部熔断器的要求见附录A和附录C。 注3:串联电容器装置的附件(火花间隙、非线性电阻器、放电电抗器、限流阻尼电抗器、阻尼电阻、断路器等)的要求 见GB/T 6115.2—2017。 注4:关于无熔丝电容器单元和电容器组的信息见附录C。 其他相关附件,如绝缘子、开关、互感器、外部熔断器等,见相关标准。 本文件的目的是: ——制定有关性能、试验和额定值的统一要求; ——制定明确的安全规则; ——提供安装和运行导则。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.060.70电力电容器 【中国标准分类号(CCS)】 :K42电力电容器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-01-28 | 实施时间: 2026-08-01