适用范围：本标准测试方法适用于具有一体化结构，呈圆、扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银合金包套Bi2212 与Bi2223氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量。本标准测试方法适用于临界电流小于500 A、n值大于5的超导体。测量可在有或无外加磁场的条件下进行。在磁场环境中测试时，磁场应垂直于样品的长度方向。在带状样品的测试中，磁场可垂直或平行于超导体较宽的一面（如果是方形，任何一面均可）。测试过程中，被测样品浸泡在液氮或液氦中。本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定。

适用范围：本标准规定了蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线的测量方法。本标准适用于蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线的测量。

适用范围：本标准规定了建筑用铝合金隔热型材传热系数测定的术语和定义、方法原理、试验设备与装置、试样、测定和试验报告。本标准适用于建筑用铝合金隔热型材传热系数的测定。

适用范围：本标准规定了直接法氧化锌白度的检验方法。本标准适用于直接法氧化锌白度的检验。

适用范围：本标准规定了采用X射线定向仪测定蓝宝石单晶晶向的方法。本标准适用于测定表面取向大致平行于低指数晶面的蓝宝石单晶材料。

适用范围：本标准规定了利用X射线光谱法测试电工钢表面涂层重量（厚度)的方法。本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量，其测量结果也可以用涂层厚度表示。本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、X射线荧光强度较大的特性元素的电工钢，给定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度，并且因所使用的仪器设备和测量方式而不同。

适用范围：GB/T 19346的本部分规定了平面压强法和卷环法测量非晶纳米晶合金带材的叠片系数的方法。本部分适用于用快淬工艺制造的非晶纳米晶合金带材(以下简称带材)的叠片系数测量，其中平面压强法适用于矩形铁芯、粘接块体等用带材的叠片系数测量；卷环法适用于环形铁芯用带材的叠片系数测量。

适用范围：本标准规定了刀具锋利度和耐用度试验方法的术语和定义、试验原理、试验环境、试验程序、试验结果及报告。

适用范围：本标准规定了电解质初晶温度测定的基本要求和测定过程中熔样的速度、初晶温度拐点的识别以及冷却速度等技术要求。本标准适用于采用步冷曲线法测定铝电解质的初晶温度。测定范围为800 ℃～1 000 ℃。

适用范围：本标准规定了电工钢带（片)涂层绝缘电阻和附着性的测试方法。本标准适用于无取向和取向电工钢带（片)表面绝缘电阻和层间电阻的测试，以及无取向和取向电工钢带（片)绝缘涂层附着性的测试。

适用范围：本标准规定了耐指纹镀锌钢板表面电阻试验方法的术语及定义、符号和说明、试验原理、试验设备、试样、试验步骤、试验结果和试验报告。本标准适用于耐指纹镀锌钢板表面电阻范围在1×10-5Ω~1×10-3Ω之间的测量。

适用范围：GB/T 19346的本部分规定了非晶纳米晶合金卷绕环形试样交流磁性能的测量方法。本部分适用于测量各种变压器和电感类元器件以及磁屏蔽用的非晶纳米晶软磁合金在50 Hz ~ 200 kHz频率范围内的相对幅值磁导率、比总损耗、比视在功率等交流磁性能。如果有合适的经过校准的仪器，频率上限可延伸到1 MHz，但此时再现性应适当放宽要求。

适用范围：本标准规定了涡流法测试铜及铜合金导电率的方法原理、术语和定义、测试要求、操作方法和测试报告。 本标准适用于用涡流导电仪对不含铁磁性的铜及铜合金材料或产品进行导电率测试。

适用范围：本标准规定了硅片边缘轮廓（包含切口)的检验方法。 本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓（包含切口)，砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。

适用范围：YS/T 1161的本部分规定了拟薄水铝石中烧失量的测定方法。 本部分适用于拟薄水铝石中烧失量的测定，测定范围为25%～40%。

适用范围：YS/T 1161的本部分规定了拟薄水铝石中胶溶指数的测定方法。 本部分适用于拟薄水铝石中胶溶指数的测定，测定范围为88%～98%。

适用范围：YS/T 1161的本部分规定了拟薄水铝石孔容和比表面积的测定方法。 本部分适用于拟薄水铝石孔容和比表面积的测定，孔容测定范围为0.10 mL/g～1.20 mL/g，比表面积测量范围为200.0 m2/g～400.0 m2/g。