GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

犐犆犛７７．１２０．９９

犎６８

中华人民共和国国家标准

／—

犌犅犜１７４７３．１２００８

代替／—

ＧＢＴ１７４７３．１１９９８

微电子技术用贵金属浆料测试方法

固体含量测定

犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊狅犳狉犲犮犻狅狌狊犿犲狋犪犾狊犪狊狋犲狊狌狊犲犱犳狅狉

狆狆

—

犿犻犮狉狅犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狊犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狊狅犾犻犱狊犮狅狀狋犲狀狋

２００８０３３１发布２００８０９０１实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

／—

犌犅犜１７４７３．１２００８

前言

本标准是对／—《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修

ＧＢＴ１７４７３１９９８

订，分为个部分：

７

———／—微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定；

ＧＢＴ１７４７３．１２００８

———／—微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定；

ＧＢＴ１７４７３．２２００８