GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.6-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of resolution
基本信息
标准号
GB/T 17473.6-2008
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
2008-03-31
实施日期
2008-09-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定方法。
本部分适用于微电子技术用贵金属浆料的分辨率测定。
发布历史
-
1998年08月
-
2008年03月
研制信息
- 起草单位：
- 贵研铂业股份有限公司
- 起草人：
- 刘成、赵汝云、陈伏生、马晓峰、刘继松、朱武勋
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：7 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS77.120.99
H68OB
中华人民共和国国家标准
GB/T17473.6—2008
代替GB/T17473.6—1998
微电子技术用贵金属浆料测试方法
分辨率测
Testmethodsofpreciousmetalspastesusedfor
microelectronics—Determinationofresolution
2008-03-31发布2008-09-01实施
发布
GB/T17473.6—2008
-1.Z-—1—
刖弓
本标准代替GB/T17473-1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分），本标准分
为7个部分：
-GB/T17473.1--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测；
——GB/T17473.2--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测；
——GB/T17473.3--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测；
——GB/T17473.4--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测试；
——GB/T17473.5--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测；
——GB/T17473.6--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测；
——GB/T17473.7--2008微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测。
本部分为GB/T17473—2008的第6部分。
本部分代替GB/T17473.6-1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法
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