GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

GB/T 17473.2-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of fineness

国家标准 中文简体 现行 页数:4页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 17473.2-2008
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2008-03-31
实施日期
2008-09-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。

研制信息

起草单位:
贵研铂业股份有限公司
起草人:
武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋
出版信息:
页数:4页 | 字数:5 千字 | 开本: 大16开

内容描述

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中华人民共和国国家标准

/—

犌犅犜17473.22008

代替/—

GBT17473.21998

微电子技术用贵金属浆料测试方法

细度测定

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20080331发布20080901实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

犌犅犜17473.22008

前言

本标准是对/—《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》(所有部分)的整合修

GBT174731998

订,分为个部分:

———/—微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定;

GBT17473.12008

———/—微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定;

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