GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

犐犆犛７７．１２０．９９

犎６８

中华人民共和国国家标准

／—

犌犅犜１７４７３．２２００８

代替／—

ＧＢＴ１７４７３．２１９９８

微电子技术用贵金属浆料测试方法

细度测定

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２００８０３３１发布２００８０９０１实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

／—

犌犅犜１７４７３．２２００８

前言

本标准是对／—《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修

ＧＢＴ１７４７３１９９８

订，分为个部分：

７

———／—微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定；

ＧＢＴ１７４７３．１２００８

———／—微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定；