GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.6-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics—Determination of resolution
基本信息
标准号
GB/T 17473.6-1998
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-
发布历史
-
1998年08月
-
2008年03月
研制信息
- 起草单位：
- 昆明贵金属研究所
- 起草人：
- 张林震
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 24176-2009 金属材料 疲劳试验 数据统计方案与分析方法 2009-06-25
- GB/T 24175-2009 钢渣稳定性试验方法 2009-06-25
- GB/T 24170.1-2009 表面抗菌不锈钢 第1部分：电化学法 2009-06-25
- GB/T 24172-2009 金属超塑性材料拉伸性能测定方法 2009-06-25
- GB/T 24179-2009 金属材料 残余应力测定 压痕应变法 2009-06-25
- GB/T 24178-2009 连铸钢坯凝固组织低倍评定方法 2009-06-25
- GB/T 24174-2009 钢 烘烤硬化值(BH2)的测定方法 2009-06-25
- GB/T 24171.1-2009 金属材料 薄板和薄带成形极限曲线的测定 第1部分：冲压车间成形极限图的测量及应用 2009-06-25
- GB/T 24171.2-2009 金属材料 薄板和薄带 成形极限曲线的测定 第2部分：实验室成形极限曲线的测定 2009-06-25
- GB/T 24177-2009 双重晶粒度表征与测定方法 2009-06-25