GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.6-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics—Determination of resolution
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-
发布历史
-
1998年08月
-
2008年03月
研制信息
- 起草单位：
- 昆明贵金属研究所
- 起草人：
- 张林震
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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