GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
GB/T 17473.1-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of solids content
基本信息
标准号
GB/T 17473.1-1998
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-
发布历史
-
1998年08月
-
2008年03月
研制信息
- 起草单位：
- 昆明贵金属研究所
- 起草人：
- 张晓民
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：5 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CSTM 00444-2023 粘结剂的粘结界面拉伸与剪切强度 试验方法 十字交叉法 2023-03-17
- T/CBCSA 17-2019 建筑陶瓷压制成形用粉料 2019-07-10
- T/ACRI 0042-2022 镁硅质与镁铝碳质连铸中间包用挡渣堰 2022-08-31
- T/CBCSA 24-2020 伊利石型水洗瓷土 2020-09-01
- T/QGCML 1902-2023 建筑用太阳能光伏瓦 2023-10-25
- T/JDZCA 0009-2023 陶瓷艺术品数字身份编码规则 2023-10-18
- T/BYXT 005.12-2023 稀土抗抑菌应用材料 第12部分：陶瓷 2023-03-20
- T/SXJP 049-2023 抗菌日用陶瓷器 1970-01-01
- T/SCS 000027-2023 陶瓷纤维复丝高温拉伸性能试验方法 2023-10-27
- T/QXBQ 0012-2020 带柄玻璃杯 2020-06-10