19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 43801-2024 微波频段覆铜箔层压板相对介电常数和损耗正切值测试方法 分离介质谐振器法 现行
    译:GB/T 43801-2024 Measurement of relative permittivity and loss tangent for copper clad laminate at microwave frequency—Split post dielectric resonator method
    适用范围:本文件描述了采用分离式介质谐振器(SPDR)测定层压板1.1 GHz~20 GHz范围内离散频率点下的相对介电常数(Dk或εr)和介质损耗角正切(Df或tanδ)的方法。本文件适用于印制板用覆铜箔层压板和绝缘介质基材的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 :L30印制电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 2471-2024 电阻器和电容器优先数系 现行
    译:GB/T 2471-2024 Preferred number series for resistors and capacitors
    适用范围:本文件为电阻器的电阻值和电容器的电容值提供了一系列优先数值。 这些优先数值是以电阻器和电容器各自按照IEC 60062标志和代码为基础定义的电阻值和电容值。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L13电阻器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2024-03-15 | 实施时间: 2024-03-15
  • GB/T 43455-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核质量评测 现行
    译:GB/T 43455-2023 Analog/mixed-signal intellectual property (IP) core quality evaluation
    适用范围:本文件规定了模拟/混合信号知识产权(IP)核质量的评测内容,包括IP核的文档质量、IP核的电路设计质量、物理设计质量、模型质量、IP核功能验证质量和IP核流片验证质量等。本文件适用于模拟/混合信号IP核的提供者、使用者和第三方评测模拟/混合信号IP核的质量,包括完备性和可复用性,并不涵盖具体功能和性能的评测。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43493.2-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 现行
    译:GB/T 43493.2-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2:Test method for defects using optical inspection
    适用范围:本文件提供了在商用碳化硅(SiC)同质外延片产品上缺陷光学检测的定义和方法。主要是通过给出这些缺陷的光学图像示例,为SiC同质外延片上缺陷的光学检测提供检测和分类的依据。 本文件主要论述缺陷的无损表征方法,因此有损表征例如湿法腐蚀等不包含在本文件范围内。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43452-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项要求 现行
    译:GB/T 43452-2023 Requirements for analog/mixed-signal intellectual property(IP) core deliverables
    适用范围:本文件规定了模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项及推荐格式或语言的要求。本文件适用于模拟/混合信号IP核的测试、交换与集成。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43536.1-2023 三维集成电路 第1部分:术语和定义 现行
    译:GB/T 43536.1-2023 Three dimensional integrated circuit—Part 1:Terminologies and definitions
    适用范围:本文件界定了基于硅通孔(TSV)或凸点实现堆叠芯片的多芯片集成电路的术语和定义。 本文件适用于基于硅通孔(TSV)或凸点实现堆叠芯片的多芯片集成电路的制造和测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43594-2023 均匀光源通用规范 现行
    译:GB/T 43594-2023 General specification for uniform light source
    适用范围:本文件规定了均匀光源的技术要求以及包装运输要求,描述了测试方法。本文件适用于结构形式为球型、平板型和准直型,光辐射波长或波段范围在220 nm~2 500 nm(含),用于光电测量与校准或照明的具有均匀辐射特性的光源,用于其分类、设计和测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L50/54光电子器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43493.1-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 现行
    译:GB/T 43493.1-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1:Classification of defects
    适用范围:本文件给出了4H-SiC(碳化硅)同质外延片中的缺陷分类。缺陷是按晶体学结构进行分类,并通过明场光学显微术(OM)、光致发光(PL)和X射线形貌(XRT)图像等无损检测方法进行识别。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/Z 43510-2023 集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南 现行
    译:GB/Z 43510-2023 Integrated circuit TSV 3D packaging reliability test methods guideline
    适用范围:本文件提供了硅通孔(TSV)三维封装的工艺开发验证用可靠性试验方法指南。 本文件适用于采用先通孔、中通孔以及后通孔三种工艺流程制造的TSV三维封装的工艺验证试验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43536.2-2023 三维集成电路 第2部分:微间距叠层芯片的校准要求 现行
    译:GB/T 43536.2-2023 Three dimensional integrated circuits—Part 2:Alignment of stacked dies having fine pitch interconnect
    适用范围:本文件规定了在芯片键合过程中使用多个叠层集成电路之间初始校准和校准保持的要求。定义了校准标记和操作步骤。本文件只适用于使用电耦合方法进行的芯片间校准。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43590.102-2023 激光显示器件 第1-2部分:术语及文字符号 现行
    译:GB/T 43590.102-2023 Laser display devices—Part 1-2:Vocabulary and letter symbols
    适用范围:本文件界定了激光显示器件及相关组件所优选的术语、定义和符号。 本文件适用于采用激光作为光源的激光显示器件。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43493.3-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法 现行
    译:GB/T 43493.3-2023 Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 3:Test method for defects using photoluminescence
    适用范围:本文件提供了商用碳化硅(4H-SiC)同质外延片生长缺陷光致发光检测的定义和方法。主要是通过光致发光图像示例和发射光谱示例,为SiC同质外延片上缺陷的光致发光检测提供检测和分类的依据。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43538-2023 集成电路金属封装外壳质量技术要求 现行
    译:GB/T 43538-2023 Quality and technical requirements for metal packages used for integrated circuits
    适用范围:本文件规定了集成电路金属封装外壳的材料、镀覆、设计和结构、电特性、外观质量及环境适应性等方面的技术要求和检验方法。 本文件适用于集成电路金属封装外壳(以下简称“外壳”)的研制、生产、交付和使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 43454-2023 集成电路知识产权(IP)核设计要求 现行
    译:GB/T 43454-2023 Design requirements of integrated circuit intellectual property (IP) core
    适用范围:本文件规定了集成电路知识产权(IP)核的设计开发过程中的一般要求和详细设计要求。 本文件适用于集成电路IP核的开发、转让和集成过程。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2023-12-28
  • GB/T 43453-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核文档结构指南 现行
    译:GB/T 43453-2023 Guideline for analog/mix-signal intellectual property(IP) core document structure
    适用范围:本文件提供了模拟/混合信号知识产权(IP)核相关文档结构,包括IP核简介、功能规范、设计手册、功能及物理验证文档和应用手册。本文件适用于模拟/混合信号IP核的提供者组织撰写模拟/混合信号IP核相关文档、使用者和第三方评价模拟/混合信号IP核文档的质量控制。注: 此处第三方是指在IP核交易过程中进行评测和提供服务的独立机构。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 43530-2023 龙虾眼型聚焦光学元件性能测试方法 现行
    译:GB/T 43530-2023 Test method of performance for lobster eye micro pore optics
    适用范围:本文件描述了龙虾眼型聚焦光学元件的X射线焦距、十字臂垂直度、点扩散函数均匀性、角分辨率、有效面积、有效面积均匀性、半能宽等性能的测试方法。 本文件适用于空间天文、医疗成像、海关检测、物质分析等X射线聚焦成像领域使用的龙虾眼型聚焦光学元件的性能测试。其他用途的龙虾眼型聚焦光学元件参照使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L50/54光电子器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-12-28 | 实施时间: 2024-07-01
  • GB/T 19520.22-2023 电气和电子设备机械结构 482.6 mm(19 in)系列机械结构尺寸 第3-110部分:智慧房屋用住宅机架和机柜 现行
    译:GB/T 19520.22-2023 Mechanical structures for electrical and electronic equipment—Dimensions of mechanical structures of the 482.6 mm(19 in) series—Part 3-110:Residential racks and cabinets for smart houses
    适用范围:本文件规定了基于IEC 602973系列的智慧房屋用住宅机架和机柜的尺寸、安装规范、环境要求及安全要求,而智慧房屋可能会成为智慧城市的一部分。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.240电子设备用机械构件 【中国标准分类号(CCS)】 :K05电工产品机械结构
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-11-27 | 实施时间: 2024-06-01
  • GB/T 19520.21-2023 电气和电子设备机械结构 482.6 mm(19 in)系列机械结构尺寸 第3-109部分:嵌入式计算设备的机箱尺寸 现行
    译:GB/T 19520.21-2023 Mechanical structures for electrical and electronic equipment—Dimensions of mechanical structures of the 482.6 mm (19 in) series—Part 3-109:Dimensions of chassis for embedded computing devices
    适用范围:本文件规定了机箱及其印制板的尺寸和物理性能,从而为嵌入式计算设备提供机械和环境完整性。嵌入式计算设备应用于机器控制、医疗、运输、航空航天以及通信等各种场合,它们通常基于单板计算机。 为便于确定合适的机箱及其单板尺寸,本文件基于44.45 mm(1.75 in)的结构网格。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.240电子设备用机械构件 【中国标准分类号(CCS)】 :K05电工产品机械结构
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-11-27 | 实施时间: 2024-06-01
  • GB/T 26215-2023 高压直流输电系统换流阀阻尼吸收回路用电容器 现行
    译:GB/T 26215-2023 Capacitors for snubber circuits of HVDC transmission system converter valves
    适用范围:本文件规定了安装在高压直流输电换流阀的晶闸管级的阻尼吸收回路中,起阻尼和均压等作用的干式电容器单元的使用条件、质量要求和试验、过电压、电容器单元的标志、安装和选用导则、环境保护及防火要求。本文件适用于安装在高压直流输电换流阀的晶闸管级的阻尼吸收回路中,起阻尼和均压等作用的干式电容器单元。直流融冰装置晶闸管换流阀阻尼吸收回路用电容器可参照执行。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.060.70电力电容器 【中国标准分类号(CCS)】 :K42电力电容器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-11-27 | 实施时间: 2024-03-01
  • GB/T 30117.4-2023 灯和灯系统的光生物安全 第4部分:测量方法 现行
    译:GB/T 30117.4-2023 Photobiological safety of lamps and lamp systems—Part 4:Measuring methods
    适用范围:本文件描述了依据GB/T 30117(所有部分)确定灯和灯系统可达光辐射水平所要进行的辐射度和光谱辐射度测量方法。  本文件适用于制造商、测试机构、安全人员和其他相关人员等的实际测量使用。注: 本文件涉及A级评估和B级评估。A级评估是准确的测量方法,使用精密的光谱辐射测量设备对可达光辐射进行测量,可在所有情况下使用;B级评估是使用普通简便的仪器进行测量,只作为初步筛查,不适合作为严格评判出具报告时使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L51激光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-11-27 | 实施时间: 2024-06-01