• GB/T 4339-1999 金属材料热膨胀特征参数的测定 被代替
    译:GB/T 4339-1999 Testing method for thermal expansion characteristic parameters of metallic materials
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1999-11-01 | 实施时间: 2000-08-01
  • GB/T 5166-1998 烧结金属材料和硬质合金弹性模量测定 被代替
    译:GB/T 5166-1998 Sintered metal materials and hardmetals—Determination of Young's modulus
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.10金属材料机械试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-12-15 | 实施时间: 1999-08-01
  • GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 被代替
    译:GB/T 17473.3-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of sheet resistance
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-08-19 | 实施时间: 1999-03-01
  • GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 被代替
    译:GB/T 17473.2-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of fineness
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-08-19 | 实施时间: 1999-03-01
  • GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 被代替
    译:GB/T 1555-1997 Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1997-12-22 | 实施时间: 1998-08-01
  • GB/T 17170-1997 非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法 被代替
    译:GB/T 17170-1997 Test method for deep level EL2 concentration of undoped semi-insulating monocrystal gallium arsenide by measurement infrared absorption method
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1997-12-22 | 实施时间: 1998-08-01
  • GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 被代替
    译:GB/T 1558-1997 Test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1997-12-22 | 实施时间: 1998-08-01
  • GB/T 17103-1997 金属材料定量极图的测定 废止转行标
    译:GB/T 17103-1997 Metal material—Quantitative pole figure preparing method
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1997-11-11 | 实施时间: 1998-05-01
  • GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 被代替
    译:GB/T 1553-1997 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1997-06-03 | 实施时间: 1997-12-01
  • GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法 被代替
    译:GB/T 1550-1997 Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1997-06-03 | 实施时间: 1997-12-01
  • GB/T 1425-1996 贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法 被代替
    译:GB/T 1425-1996 Determination of melting temperature range for precious metals and their alloys—Testing method of thermal analysis
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1996-11-04 | 实施时间: 1997-04-01
  • GB/T 1424-1996 贵金属及其合金材料电阻系数测试方法 现行
    译:GB/T 1424-1996 Method of measurement of resistivity of precious metals and their alloys
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1996-11-04 | 实施时间: 1997-04-01
  • GB/T 16596-1996 确定晶片坐标系规范 被代替
    译:GB/T 16596-1996 Specification for establishing a wafer coordinate system
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1996-11-04 | 实施时间: 1997-04-01
  • GB/T 1423-1996 贵金属及其合金密度的测试方法 现行
    译:GB/T 1423-1996 Method of measurement of density for precious metals and their alloys
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1996-11-04 | 实施时间: 1997-04-01
  • GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 被代替
    译:GB/T 6618-1995 Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-04-18 | 实施时间: 1995-12-01
  • GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法 被代替
    译:GB/T 6624-1995 Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.100化工产品 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-04-18 | 实施时间: 1995-12-01
  • GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法 被代替
    译:GB/T 1551-1995 Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-04-18 | 实施时间: 1995-12-01
  • GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法 被代替
    译:GB/T 6620-1995 Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-04-18 | 实施时间: 1995-12-01
  • GB/T 1480-1995 金属粉末粒度组成的测定 干筛分法 被代替
    译:GB/T 1480-1995 Determination of particle size for metallic powders—Dry sieving
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-04-18 | 实施时间: 1995-12-01
  • GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 被代替
    译:GB/T 6616-1995 Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-04-18 | 实施时间: 1995-12-01