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被代替
译：GB/T 4377-1996 Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods of voltage regulator
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-07-09 | 实施时间： 1997-01-01
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现行
译：GB/T 8976-1996 Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-07-09 | 实施时间： 1997-01-01
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被代替
译：GB/T 15879-1995 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 5:Recommendations applying to tape automated bonding (TAB) of integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-12-22 | 实施时间： 1996-08-01
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被代替
译：GB/T 15877-1995 Specification of DIP leadframes produced by etching
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-12-22 | 实施时间： 1996-08-01
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被代替
译：GB/T 15862-1995 Generic specification for ion implantation equipment
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L97加工专用设备
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-12-22 | 实施时间： 1996-08-01
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被代替
译：GB/T 15878-1995 Specification of leadframes for small outline package
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-12-22 | 实施时间： 1996-08-01
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被代替
译：GB/T 15861-1995 Generic specification of ion beam etching system
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L97加工专用设备
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-12-22 | 实施时间： 1996-08-01
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被代替
译：GB/T 15876-1995 Specification of leadframes for plastic quad flat package
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-12-22 | 实施时间： 1996-08-01
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废止
译：GB/T 15650-1995 Series and products for semiconductor integrated circuits—Products of series for CMOS gate array
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-07-24 | 实施时间： 1996-04-01
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废止
译：GB/T 15509-1995 Series and products for semiconductor integrated circuits—Products of robot series for Color TV
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-03-15 | 实施时间： 1995-09-01
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废止
译：GB/T 15431-1995 Generic specification for microcircuit modules
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-01-06 | 实施时间： 1995-08-01
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废止
译：GB/T 15297-1994 Mechanical and climatic test methods for microcircuit modules
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-12-06 | 实施时间： 1995-07-01
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现行
译：GB/T 4376-1994 Series and products of voltage regulators for semiconductor integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-08-08 | 实施时间： 1995-04-01
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废止
译：GB/T 15136-1994 General principles of measuring methods for quartz clock and watch circuits of semiconductor integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-06-25 | 实施时间： 1995-02-01
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现行
译：GB/T 15138-1994 Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-06-25 | 实施时间： 1995-04-01
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现行
译：GB/T 14862-1993 Junction-to-case thermal resistance test methods of packages for semiconductor integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-12-30 | 实施时间： 1994-10-01
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被代替
译：GB/T 14620-1993 Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-09-03 | 实施时间： 1993-12-01
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被代替
译：GB/T 14619-1993 Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-09-03 | 实施时间： 1993-12-01
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现行
译：GB/T 14119-1993 Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-03-18 | 实施时间： 1993-08-01
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被代替
译：GB/T 14143-1993 300～900μm Silicon slices—Measuring of interstitial oxygen content—Infrared absorption method
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
被代替
现行
被代替
被代替
被代替
被代替
被代替
被代替
废止
废止
废止
废止
现行
废止
现行
现行
被代替
被代替
现行
被代替