适用范围：范围:本文件适用于利用微位移机构检验光学平面的面形偏差、平面平晶平面度、透过波前、光学均匀性的相移式激光干涉仪（以下简称仪器）; 主要技术内容:本文件规定了相移式激光干涉仪的术语和定义、型式、基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存

适用范围：范围:本标准规定了窄线宽激光器主要性能参数的测试规范。 本标准适用于窄线宽激光器主要性能参数的测定; 主要技术内容:激光线宽 laser linewidth激光输出信号在频率坐标轴上的谱线宽度，数值对应激光光谱经洛伦兹线型拟合后其功率谱密度谱线中心峰值一半处所对应的频率宽度。洛伦兹线型 Lorentzian line shape谱线相对强度对频率的分布符合以下公式的线型：g_L (ν)=Δυ/2π[(υ-ν_0 )2+(Δυ?2)2 ]             （1）式中：g_L (ν)——洛伦兹线型函数，单位为每赫兹(1/Hz)；ν——频率，单位为赫兹（Hz）；Δυ——频率谱宽度，单位为赫兹（Hz）；ν_0——谱线的中心频率，单位为赫兹（Hz）。[GB/T 15313-2008，定义 2.1.24]窄线宽激光器 narrow linewidth laser激光输出单纵模，线宽极窄，且频率噪声，相位噪声极低，频率稳定性极好的激光器，被称作窄线宽激光器。频率噪声 frequency noise激光输出瞬时频率的随机起伏，被称作频率噪声。相位噪声 phase noise由量子噪声、增益介质扰动等因素引起的激光相位的短期连续涨落，被称作相位噪声。相对强度噪声 relative intensity noise激光功率起伏归一化到平均功率的平方时的单边谱密度，它是频率f的函数。[GB/T 15313-2008，定义 2.1.111]

适用范围：主要技术内容:本文件规定了机动车尾气遥感检测系统的术语和定义、分类与构成、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存以及质量承诺。本文件适用于利用光学原理，远距离感应测量行驶中机动车尾气排放污染物的检测系统（以下简称“遥测系统”）

适用范围：主要技术内容:规定了主要指标及参数、基本功能、性能指标、接地、控制面板的开关、按钮、说明功能的文字、符号和标志、抗电强度、整机绝缘性能、外观、连续运行的具体试验方法

适用范围：主要技术内容:本章规定了TFT-LCD自动光学检测设备的基本参数。规定了各世代机台的TFT-LCD尺寸、整机灵敏度、检测节拍、X轴(基板)、Y轴(光学头)、Z轴(AF)的具体参数要求。同时也规定了接地、控制面板的开关、按钮、说明功能的文字、符号和标志、抗电强度、整机绝缘性能、外观、连续运行的要求

适用范围：主要技术内容:本文件规定了太赫兹量子指纹中药质量控制检测分析系统的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存方面的内容

适用范围：主要技术内容:本文件规定了太赫兹光谱食品药品测定通用方法的术语和定义、仪器结构、检测方法、检测分析和结果报告

适用范围：本文件规定了预应力钢筒混凝土管分布式光纤声监测技术的方法原理、一般要求、性能要求、安装及验收要求、运行维护要求，给出了监测报告的基本信息。 本文件适用于预应力钢筒混凝土管线的预应力钢丝完整性在线监测。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了红外测油仪（以下简称测油仪）的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。本文件适用于采用红外分光光度法测量固体、气体及水体中油类含量的测油仪。此仪器分为实验室、便携式、在线式3种类型

适用范围：范围:本文件适用于配备直径2.0 m以内积分球的光电综合测试仪主要性能检测，其他光电综合测试仪可参考使用; 主要技术内容:本文件规定了配积分球的光电综合测试仪的术语和定义、主要性能要求及检测方法

适用范围：范围:本文件适用于一维条码检测仪、二维条码检测仪的检测，其他相同原理的条码检测设备可参考使用; 主要技术内容:本文件规定了条码检测仪的术语和定义、性能要求及检测方法

适用范围：范围:本文件适用于紫外线能量计的性能检测，其他相关紫外线能量计可参考使用; 主要技术内容:本文件规定了紫外线能量计的术语和定义、性能要求及检测方法

适用范围：范围:本文件适用于紫外分析仪(包括三用紫外分析仪、暗箱式紫外分析仪、可照相紫外分析仪等系列)的性能检测，其他紫外分析仪可参考使用; 主要技术内容:本文件规定了紫外分析仪的术语和定义、要求及检测方法

适用范围：本文件规定了个人眼护具视野范围检测的准备、程序和参数计算。本文件适用于个人眼护具视野范围的检测。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了产品的术语和定义、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等方面的要求。本文件适用于全自动高速旋光仪（以下简称仪器）

适用范围：范围:本文件规定了用高分辨X射线衍射法表征6H和4H碳化硅单晶衬底基平面弯曲的方法。 本文件适用于（0001）面或（0001）面偏晶向的6H和4H-碳化硅单晶衬底中基平面弯曲的表征; 主要技术内容:碳化硅（SiC）具有高临界击穿场强、高的热导率、高电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。使用碳化硅作为衬底生长器件结构时，衬底质量对外延层的质量起决定性作用。大尺寸碳化硅单晶常常呈现基平面的摇摆曲线衍射峰位随着单晶直径衍射位置的改变而变化的现象，这种衍射峰位的移动源于基平面弯曲。由于基平面弯曲的存在，导致同质外延或异质外延层边缘位置的c轴偏离中心位置的c轴，影响后续器件制备工艺的均匀性与可靠性。只有掌握了碳化硅单晶衬底基平面弯曲的特性，才能够深入了解基平面弯曲产生的原因，提供单晶生长条件优化的方向，进而提升单晶质量。因此有必要发展一种能够准确、全面的表征碳化硅单晶基平面弯曲特性的方法。目前我国以X射线衍射法表征碳化硅单晶片的晶面弯曲特性的标准属于空白领域，因此特制定本标准

适用范围：范围:本文件规定了色散镜的术语和定义、产品分类和标记、技术要求、薄膜材料、光谱和色散特性测试要求和产品包装和运输等。 本文件适用于超快激光中的介质或金属介质色散镜; 主要技术内容:本文件规定了色散镜的术语和定义、产品分类和标记、技术要求、薄膜材料、光谱和色散特性测试要求和产品包装和运输等。本文件适用于超快激光中的介质或金属介质色散镜

适用范围：范围:本文件规定了采用光谱法测定单层光学薄膜的光谱特性，并以此反演出膜层光学常数的测试方法。 本文件适用于50nm～5000nm的介质光学薄膜和基片，薄膜为氧化物、氟化物、硫化物等化合物，基片为各种可见光透明光学玻璃、可见光透明各向同性晶体; 主要技术内容:本文件规定了采用光谱法测定单层光学薄膜的光谱特性，并以此反演出膜层光学常数的测试方法。本文件适用于50nm～5000nm的介质光学薄膜和基片，薄膜为氧化物、氟化物、硫化物等化合物，基片为各种可见光透明光学玻璃、可见光透明各向同性晶体

适用范围：本文件规定了液相色谱仪测试用标准色谱柱的术语和定义、标准柱参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于液相色谱仪测试用标准色谱柱（以下简称“标准柱”）。

适用范围：本文件规定了纺织用色立体颜色标号、测量、色差评价的要求，提供了颜色分析与搭配的建议。 本文件适用于纺织品设计、加工、使用等领域中对颜色的定量表示和分析与搭配应用，其他行业颜色的定量表示和分析与搭配应用也可参照使用。