国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译：SJ 2354.3-1983 Method of measurement for dark current of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏 -
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译：SJ 2354.4-1983 Method of measurement for forward voltage drop of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.5-1983 Method of measurement for capacitance of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.6-1983 Method of measurement for responsivity of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.10-1983 Method of measurement for cross-light factor of PIN and avalanche photodiodes matrix【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.2-1983 Method of measurement for reverse break-down voltage of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.8-1983 Method of measurement for pulse rise time and fall time of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.1-1983 General procedures of measurement for electrical and optical parameters of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.13-1983 Method of measurement for multiplication factor of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.9-1983 Method of measurement for noise equivalent power of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.7-1983 Method of measurement for spectral response curve and spectral response range of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2354.14-1983 Method of measurement for excess noise factor of PIN and avalanche photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1983-08-15 | 实施时间： 1984-07-01收藏
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译：SJ 2214.8-1982 Method of measurement for dark current voltage of semiconductor phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.12-1982 Method of measurement for input-to-output capacitance of semiconductor photocouplers【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.8-1982 Method of measurement for output saturation voltage of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.3-1982 Method of measurement for forward current of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.7-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2214.7-1982 Method of measurement for saturation voltage of semiconductor phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2214.4-1982 Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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