• SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 废止
    译:SJ 2214.10-1982 Method of measurement for light current of semiconductor photodiodes and phototransistors
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法 废止
    译:SJ 2215.6-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photocouplers (diodes)
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 废止
    译:SJ 2215.14-1982 Method of measurement for input-to-output isolation voltage of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法 废止
    译:SJ 2215.4-1982 Method of measurement for reverse current of semiconductor photocouplers (diodes)
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则 废止
    译:SJ 2214.1-1982 General procedures of measurement for semiconductor photodiodes and phototransistors
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法 废止
    译:SJ 2215.5-1982 The testing method for reverse breakdown voltage of a semiconductor optical coupler (diode)
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 废止
    译:SJ 2214.2-1982 Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.9-1982 半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法 废止
    译:SJ 2215.9-1982 Method of measurement for reverse cut-off current of semiconductor photocouplers transistors
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法 废止
    译:SJ 2215.2-1982 Method of measurement for forward voltage of semiconductor photocouplers (diodes)
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法 废止
    译:SJ 2214.6-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2216-1982 硅光敏二极管 废止
    译:SJ 2216-1982 Silicon photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法 废止
    译:SJ 2214.5-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 废止
    译:SJ 2215.13-1982 Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 废止
    译:SJ 2215.11-1982 Method of measurement for pulse rise fall delay and storage time of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则 废止
    译:SJ 2215.1-1982 General procedures of measurement for semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 废止
    译:SJ 2215.10-1982 Method of measurement for direct current transfer ratio of semiconductor photocouplers
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法 废止
    译:SJ 2214.3-1982 Method of measurement for dark current of semiconductor photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1982-11-30 | 实施时间: 1983-07-01
  • SJ 1879-1981 气体激光器发散角的测试方法 废止
    译:SJ 1879-1981 Methods of measurement for angle of beam divergence of gas laser devices
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L51激光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1981-11-23 | 实施时间: 1982-06-01
  • SJ 1872-1981 气体激光器着火电压的测试方法 废止
    译:SJ 1872-1981 Methods of measurement for firing voltage of gas laser devices
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L51激光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1981-11-23 | 实施时间: 1982-06-01
  • SJ 1876-1981 气体激光器输出功率稳定性的测试方法 废止
    译:SJ 1876-1981 Methods of measurement for stability of output power for gas laser devices
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L51激光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1981-11-23 | 实施时间: 1982-06-01