国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译：GB/T 1558-1997 Test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01收藏 -
废止
译：GB/T 17169-1997 Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01收藏
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译：GB/T 8750-1997 Gold wire for semiconductor devices lead bonding【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H68贵金属及其合金发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01收藏
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译：GB/T 16595-1996 Specification for a universal wafer grid【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-11-04 | 实施时间： 1997-04-01收藏
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译：GB/T 12963-1996 Polycrystalline silicon【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-11-04 | 实施时间： 1997-04-01收藏
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译：GB/T 12962-1996 Monocrystalline silicon【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-11-04 | 实施时间： 1997-04-01收藏
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译：GB/T 16596-1996 Specification for establishing a wafer coordinate system【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-11-04 | 实施时间： 1997-04-01收藏
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译：GB/T 12965-1996 Monocrystalline silicon as cut slices and lapped slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-11-04 | 实施时间： 1997-04-01收藏
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译：GB/T 5238-1995 Monocrystalline germanium【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-10-17 | 实施时间： 1996-03-01收藏
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译：GB/T 15713-1995 Monocrystalline germanium slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.040.20绝缘气体 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-10-17 | 实施时间： 1996-03-01收藏
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译：GB/T 6618-1995 Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 6616-1995 Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 6619-1995 Test methods for bow of silicon slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 6621-1995 Test methods for surface flatness of silicon polished slices【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01收藏
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译：GB/T 14849.3-1993 Silicon metal—Determination of calcium content【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-12-24 | 实施时间： 1994-09-01收藏
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译：GB/T 14847-1993 Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-12-24 | 实施时间： 1994-09-01收藏
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译：GB/T 14139-1993 Silicon epitaxial wafers【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H81半金属发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14141-1993 Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 14142-1993 Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01收藏
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译：GB/T 13789-1992 Magnetic sheet and strip—Methods of measurement of magnetic properties by means of a single sheet tester【国际标准分类号(ICS)】 ：29.040.10绝缘油 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1992-11-16 | 实施时间： 1993-06-01收藏
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