国家标准-金属材料试验综合（分类列表）最全国家标准、行业标准-第4页-准行天下

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GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法

译：GB/T 18036-2000 The test method of thermo-emf for platinum rhodium thermocouple thin wires

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-04-03 | 实施时间： 2000-09-01

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GB/T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法

译：GB/T 18032-2000 The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H24金相检验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-04-03 | 实施时间： 2000-09-01

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现行

GB/T 4067-1999 金属材料电阻温度特征参数的测定

译：GB/T 4067-1999 Testing method for electrical resistance-temperature characteristic parameters of metallic materials

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-11-01 | 实施时间： 2000-08-01

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GB/T 4339-1999 金属材料热膨胀特征参数的测定

译：GB/T 4339-1999 Testing method for thermal expansion characteristic parameters of metallic materials

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-11-01 | 实施时间： 2000-08-01

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GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定

译：GB/T 17473.3-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of sheet resistance

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定

译：GB/T 17473.1-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of solids content

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H15贵金属及其合金分析方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定

译：GB/T 17473.5-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of viscosity

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H22金属力学性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性试验

译：GB/T 17473.7-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Test of solderability and solderleaching resistance

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H23金属工艺性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定

译：GB/T 17473.4-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of adhesion

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H22金属力学性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定

译：GB/T 17473.6-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics—Determination of resolution

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H23金属工艺性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定

译：GB/T 17473.2-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of fineness

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01

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GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

译：GB/T 1553-1997 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-06-03 | 实施时间： 1997-12-01

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GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法

译：GB/T 1550-1997 Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-06-03 | 实施时间： 1997-12-01

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GB/T 16481-1996 稀土元素微波等离子体炬发射光谱(MPT-AES)标准谱表

译：GB/T 16481-1996 Standard spectrum tables of microwave plasma torch-atomic emitting spectrum of rare earth

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H14稀有金属及其合金分析方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-07-09 | 实施时间： 1997-01-01

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废止

GB/T 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法

译：GB/T 15615-1995 Test method for measuring flexure strength of silicon slices

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H23金属工艺性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-07-12 | 实施时间： 1996-02-01

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GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法千分尺法

译：GB/T 14140.2-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Micrometer method

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01

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GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法光学投影法

译：GB/T 14140.1-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method

【国际标准分类号(ICS)】：77.040.01金属材料试验综合【中国标准分类号(CCS)】：H21金属物理性能试验方法

发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01

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