国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
-
现行
译：SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏 -
现行
译：SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
-
现行
译：T/JSSIA 0005-2017 Integrated circuit package - Plastic Quad Flat Package (PQFP)适用范围：范围:本标准规定了集成电路塑料封装的四边引线扁平封装（PQFP）的术语及定义、结构及外形尺寸、封装材料、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存; 主要技术内容:本标准规定了集成电路塑料封装的四边引线扁平封装（PQFP）的术语及定义、结构及外形尺寸、封装材料、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存，适用于PQFP系列封装【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2017-09-29 | 实施时间： 2017-10-01收藏
-
现行
译：GB/T 33657-2017 Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells适用范围：本标准规定了纳米尺度相变存储单元读写擦参数的晶圆测试规范，其测试结果可用于表征相变存储材料或器件的电学可操作性能。本标准适用于以硫系化合物为主要原料，基于半导体晶圆工艺加工制造的电极尺度小于100 nm的相变存储单元，100 nm～300 nm的相变存储单元也可参照本标准执行。本标准不适用于包含外围驱动电路的存储单元。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2017-05-12 | 实施时间： 2017-12-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11585-2016 Serial Memory Interface Requirements【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
-
现行
译：GB/T 15878-2015 Semiconductor integrated circuits—Specification of leadframes for small outline package适用范围：本标准规定了半导体集成电路小外形封装(SOP)引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。 本标准适用于半导体集成电路小外形封装冲制型引线框架。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2015-05-15 | 实施时间： 2016-01-01收藏
-
现行
译：GB/T 15876-2015 Semiconductor integrated circuits—Specification of leadframes for plastic quad flat package适用范围：本标准规定了半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架（以下简称引线框架）的技术要求及检验规则。 本标准适用于半导体集成电路塑料四面引线扁平封装冲制型引线框架。塑料四面引线扁平封装刻蚀引线框架也可参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2015-05-15 | 实施时间： 2016-01-01收藏
-
现行
译：GB/T 14112-2015 Semiconductor integrated circuits—Specification for stamped leadframes of plastic DIP适用范围：本标准规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架(以下简称引线框架)的技术要求及检验规则。本标准适用于双列(DIP)冲制型引线框架。单列冲制型引线框架亦可参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2015-05-15 | 实施时间： 2016-01-01收藏
-
现行
译：GB/T 16525-2015 Semiconductor integrated circuits—Specification of leadframes for plastic leaded chip carrier package适用范围：本标准规定了半导体集成电路塑料有引线片式载体（PLCC）封装引线框架（以下简称引线框架）的技术要求及检验规则。 本标准适用于半导体集成电路塑料有引线片式载体（PLCC）封装引线框架的研制、生产和采购。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2015-05-15 | 实施时间： 2016-01-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11479-2014【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11478-2014 IP Core Quality Evaluation【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11477-2014 SJ/T 11477-2014 IP core delivery specification【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
-
现行
译：GA/T 1171-2014 Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips适用范围：本标准规定了集成电路芯片相似性比对检验方法。 本标准适用于集成电路芯片相似性比对，检验集成电路芯片设计的相似性。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间： 2014-07-09 | 实施时间： 2014-07-09收藏
-
现行
译：GB/T 15877-2013 Semiconductor integrated circuits—Specification of DIP leadframes produced by etching适用范围：本标准规定了半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求和试验方法及检验规则。 本标准适用于半导体集成电路蚀刻型双列(DIP)封装引线框架(镀金及镀银)，单列蚀刻型引线框架亦可参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-08-15收藏
-
现行
译：GB/T 17574.11-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-11:Digital integrated circuits—Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-05 | 实施时间： 2007-05-01收藏
-
现行
译：GB/T 17574.9-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-9:Digital integrated circuits—Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-05 | 实施时间： 2007-05-01收藏
-
现行
译：GB/T 17574.20-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-20:Digital integrated circuits—Family specification—Low voltage integrated circuits适用范围：本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10％。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-05 | 实施时间： 2007-05-01收藏
-
现行
译：GB/T 20515-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 5:Semicustom integrated circuits适用范围：本标准规定了下列集成电路（IC）分类体系树（见图1）中有关半定制集成电路子类的标准。 注:这个体系树是不封闭的，可以在需要时拓展。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-10-10 | 实施时间： 2007-02-01收藏
-
现行
译：SJ/Z 11359-2006 Taxonomy of functional verification for integrated circuit IP core development and integration【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2006-09-26 | 实施时间： 2006-12-01收藏
-
废止
译：SJ/Z 11351-2006 SJ/Z 11351-2006 is the standard format for describing, selecting, and transferring IP cores for integrated circuits【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2006-09-26 | 实施时间： 2006-12-01收藏
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
废止