GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 1557-2018 Test method for determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
基本信息
发布历史
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1989年03月
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2006年07月
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2018年09月
研制信息
- 起草单位:
- 新特能源股份有限公司、有研半导体材料有限公司、亚洲硅业(青海)有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、内蒙古盾安光伏科技有限公司、峨嵋半导体材料研究所、北京合能阳光新能源技术有限公司
- 起草人:
- 银波、夏进京、邱艳梅、刘国霞、柴欢、赵晶晶、刘文明、姚利忠、王海礼、邓浩、高明、郑连基、陈赫、石宇、杨旭、肖宗杰
- 出版信息:
- 页数:10页 | 字数:18 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS77.040
H17
国;
中华人民共和国国家标准
GB/T1557-2018
代替GB/T15572006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
Testmethodfordetermininginterstitialoxygencontentinsiliconbyinfrared
absorption
2018-09-17发布2019-06-01实施
国家市场监督管理总局峪非
中国国家标准化管理委员会0(..'I(J
GB/T1557-2018
目u昌
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T1557-2006《硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法》,与GB/T1557-2006
相比,除编辑性修改外主要技术变化如下:
范围中增加了“以低调红外设备测试时,氧含量(原子数)的测试范围从0.5×1015cm-3到硅中
间隙氧的最大同溶度”(见第1章)。
一一一在规范性引用文件中增加了GB/T4059、GB/T4060、GB/T29057、GB/T35306(见第2章)。
一一在方法提要中增加了低泪红外光谱仪的测试原理,井明确“低祖傅里叶变换红外光谱仪测试硅
单晶中氧含量的具体内容见GB/T35306”(见第4章)。
在干扰因素中增加了多品、测试环境、样品位置、洲民设备对测试结果的影响(见5.1、5.8、5.9、
5.10)。
一一将扣除参比光谱后样品的透射光谱在1600cm1处的透射率由"100%土0.5%”改为“100%土
5%”(见5.4,2006年版5.3)。
一一删除了沉淀氧浓度较高时,1230cm1处的吸收谱带对测试结果的影响(见2006年,版5.5)。
一一将"6.3千分尺”修改为“6.3厚度测量设备”,修改设备精度大于0.01mm(见6.3,2006年版
6.3)。
一一将“6.4热电偶-毫伏计”修改为“6.4温度测量设备热电偶-毫伏计或其他适用于测试样品
室温度的设备”(见6.4,2006年版6.的。
一一一增加"6.5温度测试设备湿度计或其他适用于测试环境温度的设备”(见6.5)。
一一将设备检查中的抛光片厚度FR0.065cm改为0.085cm(见8.2.5,2006年版8.2.5)。
一一-将“表面处理”修改为“在测试之前,应保证样品表面兀氧化物”,删除了“用HF腐蚀去|结表面
的氧化物”(见8.3,2006年版8.3)。
一一将“厚度测量”修改为“测量被视rj样品和参比样品的厚度。两者中心的厚度差应小于土0.5%”
(见8.4,2006年版8.的。
一一将绘制透射谱罔列为资料性附录(见附录A,2006年版8.7)。
一一根据试验情况,修改了精密度(见第10章,2006年版第11章)。
本标准由全同半导体设备和l材料标准化技术委员会(SAC/TC203)与全同半导体设备和材料标准
化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2)共同提州井归口。
本标准起草单位:新特能源股份有限公司、有研半导体材料有限公司、亚洲硅业(青海)有限公司、宜
同南玻硅材料有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、内蒙古盾安光伏科技有限公司、峨崛半导体材料
研究所、北京合能阳光新能源技术有限公司。
本标准主要起草人:银波、夏进京、邱艳梅、刘同霞、柴欢、赵品品、刘文明、姚利忠、王海礼、邓浩、
高明、郑连基、陈赫、石宇、杨旭、肖宗杰。
本标准代替了GB/T15572006。
GB/T1557-2006历次版本发布情况为:
一一-GB/T1557-1989、GB/T14143-1993。
I
GB/T1557-2018
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
1范围
本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶晶体中间隙氧含量的方法。
本标准适用于室源电阻率大于0.1D•cm的N型硅单品和室温电阻率大于0.5D•cm的P型硅
单品中间隙氧含量的测定。以常跟红外设备测试时,氧含量(原子数)测试范围从1×1016cm-3到硅中
间隙氧的最大同榕度;以低泪t红外设备测试时,氧含量(原子数)的测试范围从0.5×1015cm3到硅中间
隙氧的最大固溶度。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。儿是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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GB/T4060硅多品真空区熔基础l检验方法
GB/T14264半导体材料术语
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GB/T35306硅单品中碳、氧含量的测定低混傅立叶变换红外光谱法
ASTME131分子光谱有关术语(Standardterminologyrelatingtomolecularspectroscopy)
3术语和定义
GB/T14264和ASTMEl31界定的以及下列术悟和定义适用于本文件。
3.1
色散型红外光谱仪dispersiveinfraredspectrophotometer
一种使用棱镜或光栅作为色散元件,通过振幅波数(或波长)光谱罔获取数据的红外光谱仪。
3.2
傅里叶变换红外光谱仪Fouriertransforminfraredspectrophotometer
一种通过傅里叶变换将Fl,干涉仪得到的干涉谱罔转换为振幅一波数(或波长)光谱罔来获取数据的
红外光谱仪。
3.3
参比光i普referencespectrum
参比样品的光谱。
注:在用双光乡R3'Gt曾仪测试时,可以通过直按将参比样品放入样品光路,让参比光路空着获得;在用单光束)'(;i着仪
测试时,可以通过向红外先路巾获得的参比样品的)'Gi普扣除背最光话后计算获得。
3.4
样品光i昔samplespectrum
测试样品的光谱。
注:在用双光JIU'G谱仪测试时,可以通过直按将测试样品放入样品光路,让参比光路空着获得;在用单光点)'(;i苦仪
测试时,将自测试样品放入红外)'(;路获得的)'(;l者扣除背景)'(;话后计算获得。
GB/T1557-2018
4方法提要
使用经过校准的红外光谱仪和适当的参比材料,通过
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