适用范围：本文件规定了金属材料断裂韧度仪器化压入试验方法的原理、试验机、试样、试验程序、试验结果的不确定度和试验报告。 本文件适用于GB/T 21838.1规定的宏观范围仪器化压入试验测定韧性金属材料断裂韧度。

适用范围：本文件描述了用直排四探针法测量硅单晶片径向电阻率变化的方法。 本文件适用于厚度小于探针平均间距、直径大于15 mm、室温电阻率在3×10-4 Ω·cm～1.8×104 Ω·cm的p型硅单晶片及室温电阻率在6×10-3 Ω·cm～1×105 Ω·cm的n型硅单晶片的径向电阻率变化的测量。硅单晶片其他范围电阻率的测量参照本文件进行。

适用范围：本文件描述了硅外延用三氯氢硅中锂、硼、钠、镁、铝、钾、钙、磷、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、钼、砷、铅等元素的电感耦合等离子体质谱仪测定方法。 本文件适用于硅外延用三氯氢硅中杂质元素含量的测定。各元素测定范围见表1。

适用范围：本文件规定了通过在压入力或位移保持恒定目标值或连续加载至指定力或位移目标值的过程中叠加振荡力或位移，以测定弹塑性材料压入硬度和压入模量的线弹性动态仪器化压入试验方法。

适用范围：本文件描述了红外反射法测试重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的方法。 本文件适用于电阻率为0.000 6 Ω·cm～0.025 Ω·cm的衬底上制备的厚度大于0.5 μm的硅外延层厚度的测试。

适用范围：本文件规定了圆钢相控阵超声检测的通用要求、检测设备、对比试样、检测方法、检测程序、验收和检测报告。 本文件适用于直径8 mm～400 mm圆钢的相控阵超声自动或半自动检测。手动检测及其他规格的圆钢相控阵超声检测参照执行。

适用范围：本文件规定了测定金属材料脆性裂纹止裂韧度Kca的试验原理、试验设备、试样、试验方法、试验程序、止裂韧度的计算和试验报告。 本文件适用于抗拉强度不大于1 150 MPa、止裂温度范围为-196 ℃～100 ℃、具有韧脆转变特性的厚度不大于200 mm铁素体类轧制平钢板，但不适用于将管材压扁形成的钢板，因为压扁会导致止裂韧度发生变化。

适用范围：本文件描述了标准评级图法、定量法和硬度法三种钢中带状组织评定方法，包括方法概述、设备、取样、试样制备、评定方法、检验结果和检测报告。 本文件适用于经塑性变形的钢中带状组织的检验与评定。

适用范围：本文件规定了碳化物球化程度评定的取样和样品制备、评定方法、结果表示和检验报告。 本文件主要适用于碳含量不高于0.80%的钢球化退火后碳化物球化程度的评定，其中图谱比较法适用于冷镦钢、冷挤压用钢，其他钢种可参照使用。

适用范围：本文件描述了用酸浸法和超声检测法评定结构钢低倍组织缺陷，包括酸浸法的原理、缺陷分类、特征、产生原因及评定原则、评级图分类及适用范围，以及超声检测法的原理、仪器和设备、对比试块、检测条件和步骤、结果评定。 本文件适用于碳素结构钢、合金结构钢、弹簧钢钢材(锻、轧坯)低倍组织缺陷的评定。其他钢低倍组织缺陷的评定参照本文件执行。

适用范围：本文件描述了半导体单晶材料在波长0.2μm~300μm范围内透过率的测量方法。 本文件适用于硅、锗、磷化铟、硒化镉、硫化镉、碳化硅、氮化镓、氧化镓、蓝宝石、金刚石等半导体单晶材料透过率的测定。

适用范围：本文件规定了使用电磁超声换能器（EMAT）进行超声检测的检测原理、一般要求、检测设备、试样、检测方法、结果判定和检测报告。 本文件适用于由电磁方法产生声波的材料（包括铁磁性或非铁磁性金属材料）的厚度测量和表面检测，其他波型的检测参照本文件执行。

适用范围：本文件描述了电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性测试方法。 本文件定义了在规定温度(最高850 ℃)、规定持续时间(最高2 500 h)下进行热处理后，对电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性进行评估试验的通用原则和技术细节，包括原理、试样、试验步骤、测量结果及试验报告。 在热处理前后的环境温度(23±5)℃下测量规定性能，本文件适用于绝缘涂层的下列性能： ——附着性； ——表面绝缘电阻/层间绝缘电阻； ——叠装系数。 本文件不适用于绝缘涂层的其他性能，如焊接性能，或暴露于高温下可能引起的变色等其他性能。因是长周期测试，本文件不适用于特定订单材料的验收测试。

适用范围：本文件规定了金属材料旋转弯曲疲劳试验方法的原理、试样的形状和尺寸、试样制备、试验设备的准确度、加热装置和温度测量装置、试验程序、试验报告、试验结果的表述和测量不确定度。 本文件适用于金属材料在室温或高温空气中试样旋转弯曲的条件下进行的疲劳试验,其他环境(如腐蚀)下的旋转弯曲疲劳试验参照本文件执行。 本文件不包括缺口试样的疲劳试验,因为缺口试样的形状和尺寸尚未标准化。然而,本文件中描述的疲劳试验程序也能应用于缺口试样的疲劳试验。

适用范围：本文件规定了钢的硫印检验方法的原理和目的、取样和制备、材料和试剂、定影液、试验步骤、试验安全、检验结果及试验报告。 本文件适用于硫含量(质量分数)小于0.40%的钢，铸铁也可参照使用。

适用范围：本文件规定了钢板表面硬点电磁检测的一般要求、检测原理、质量等级、检测方法、检测设备、对比试样、检测程序、结果评定、检测报告。 本文件适用于热机械轧制工艺生产的铁磁性钢板硬度值不小于30 HV10的表面硬点电磁检测，其他轧制工艺生产的铁磁性钢板表面硬点检测参照执行。

适用范围：本文件规定了钢产品单位面积上镀锌层质量试验方法的原理、试验溶液、试样、试验方法的选择、试验步骤和结果计算、再现性及试验报告。 本文件适用于纯锌镀层、锌铁合金镀层、锌镁合金镀层、锌铝镁合金镀层、铝锌合金镀层以及铝锌镁合金镀层等镀层产品。 铝硅合金镀层等其他镀层产品参照本文件执行。

适用范围：本文件描述了碳化硅单晶片的厚度和平整度测试方法，包括接触式和非接触式测试方法。 本文件适用于厚度为0.13 mm~1 mm，直径为50.8 mm、76.2 mm、100 mm、150 mm、200 mm的碳化硅单晶片厚度和平整度的测试。 本文件也适用于碳化硅外延片厚度和平整度的测试。

适用范围：本文件描述了用轮廓仪法、千分尺法和游标卡尺法测试半导体晶片直径的方法。 本文件适用于圆形半导体晶片直径的测试，测试范围为标称直径不大于300 mm。本文件不适用于测试晶片的不圆度。

适用范围：本文件描述了碳化硅单晶片的微管密度的测试方法，包括化学腐蚀法和偏振光法。 本文件适用于碳化硅单晶片微管密度的测试。