QC/T 1265-2025 电动汽车用功率驱动芯片技术要求及试验方法
QC/T 1265-2025 Technical requirements and test methods of power drive chip for electric vehicles
基本信息
本文件适用于电动汽车高压部件用功率驱动芯片,其他功率型芯片参考使用。
发布历史
-
2025年12月
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研制信息
- 起草单位:
- 比亚迪半导体股份有限公司、中国汽车技术研究中心有限公司、中汽研科技有限公司、比亚迪汽车工业有限公司、广州广电计量检测(上海)有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、宁德时代新能源科技股份有限公司、紫光同芯微电子有限公司、英飞凌科技(中国)有限公司、天津易鼎丰动力科技有限公司、中汽院(江苏)汽车工程院有限公司、华为数字能源技术有限公司、苏州汇川联合动力系统股份有限公司、中国第一汽车股份有限公司、上汽通用五菱汽车股份有限公司、恩智浦(中国)管理有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、华侨大学、上海贝岭股份有限公司、苏州纳芯微电子股份有限公司
- 起草人:
- 谢正、郑天雷、夏显召、谭易、吴国秀、耿旭旭、陈振、郭大铭、柳邵辉、张艳争、赵春明、曹冬冬、尹研、肖璟博、杨睿诚、刘志强、邵杰、刘二喜、邵长宏、郭新华、刘庭元、赖汉伦、诸弘超
- 出版信息:
- 页数:24页 | 字数:34 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS43.120
CCST47
中华人民共和国汽车行业标准
!
QC/T1265—2025
电动汽车用功率驱动芯片技术要求及
试验方法
Technicalrequirementsandtestmethodsofpowerdrivechipforelectricvehicles
2025‑12‑29发布2026‑07‑01实施
中华人民共和国工业和信息化部
+,0)
发布
0)
QC/T1265—2025
目次
前言……………………………Ⅲ
1范围…………………………1
2规范性引用文件……………1
3术语和定义…………………2
4符号和缩略语………………2
5技术要求……………………4
6试验方法……………………8
Ⅰ
QC/T1265—2025
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国汽车标准化技术委员会(SAC/TC114)提出并归口。
本文件起草单位:比亚迪半导体股份有限公司、中国汽车技术研究中心有限公司、中汽研科技有限
公司、比亚迪汽车工业有限公司、广州广电计量检测(上海)有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心
有限公司、宁德时代新能源科技股份有限公司、紫光同芯微电子有限公司、英飞凌科技(中国)有限公司、
天津易鼎丰动力科技有限公司、中汽院(江苏)汽车工程院有限公司、华为数字能源技术有限公司、苏州
汇川联合动力系统股份有限公司、中国第一汽车股份有限公司、上汽通用五菱汽车股份有限公司、恩智浦
(中国)管理有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、华侨大学、上海贝岭股份有限公司、苏州纳芯微电子
股份有限公司。
本文件主要起草人:谢正、郑天雷、夏显召、谭易、吴国秀、耿旭旭、陈振、郭大铭、柳邵辉、张艳争、赵春明、
曹冬冬、尹研、肖璟博、杨睿诚、刘志强、邵杰、刘二喜、邵长宏、郭新华、刘庭元、赖汉伦、诸弘超。
Ⅲ
QC/T1265—2025
电动汽车用功率驱动芯片技术要求及
试验方法
1范围
本文件规定了电动汽车用功率驱动芯片的技术要求,描述了相应的试验方法。
本文件适用于电动汽车高压部件用功率驱动芯片,其他功率型芯片参考使用。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本
文件。
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GB/T4937.4半导体器件机械和气候试验方法第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
GB/T4937.6半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温贮存
GB/T4937.10半导体器件机械和气候试验方法第10部分:机械冲击器件和组件
GB/T4937.12半导体器件机械和气候试验方法第12部分:扫频振动
GB/T4937.19半导体器件机械和气候试验方法第19部分:芯片剪切强度
GB/T4937.21半导体器件机械和气候试验方法第21部分:可焊性
GB/T4937.22半导体器件机械和气候试验方法第22部分:键合强度
GB/T4937.23半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命
GB/T4937.25半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环
GB/T4937.26半导体器件机械和气候试验方法第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试人
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GB/T4937.30半导体器件机械和气候试验方法第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试
验前的预处理
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