国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：GB/T 28277-2012 Silicon-based MEMS fabrication technology—Measurement method of cutting and pull-press strength of micro bonding area适用范围：本标准规定了硅基MEMS加工过程中所涉及的微小键合区域键合强度检测的要求和试验方法。 本标准适用于采用微电子工艺及相关微细加工技术制造的微小键合区的剪切和拉压强度测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2012-05-11 | 实施时间： 2012-12-01收藏 -
现行
译：GB/T 26112-2010 Micro-electromechanical system technology—General rules for the assessment of micro-mechanical parameters适用范围：本标准规定了微机械量的评定基本原则、评定要素、评定程序、评定方法以及评定规则。 本标准适用于企业、研究机构、检测机构从事微机电技术及产品的研究、设计、生产、检测及使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2011-01-10 | 实施时间： 2011-10-01收藏
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被代替
译：GB/T 26111-2010 Micro-electromechanical system technology—Terms适用范围：本标准规定了微机电系统领域所涉及的材料、设计、加工、封装、测量以及器件等方面的通用术语和定义。 本标准适用于微机电系统领域的研究、开发、评测和应用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2011-01-10 | 实施时间： 2011-10-01收藏
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现行
译：GB/T 26113-2010 Micro-electromechanical system technology—General rules for the assessment of micro-geometrical parameters适用范围：本标准规定了微几何量的评定基本原则、评定要素、评定程序、评定方法以及评定规则。 本标准适用于企业、研究机构、检测机构等从事微机电技术及产品的研究、设计、生产、检测。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2011-01-10 | 实施时间： 2011-10-01收藏
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现行
译：GB/T 17574.11-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-11:Digital integrated circuits—Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-05 | 实施时间： 2007-05-01收藏
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现行
译：GB/T 17574.9-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-9:Digital integrated circuits—Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-05 | 实施时间： 2007-05-01收藏
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现行
译：GB/T 17574.20-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-20:Digital integrated circuits—Family specification—Low voltage integrated circuits适用范围：本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10％。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-05 | 实施时间： 2007-05-01收藏
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现行
译：GB/T 20515-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 5:Semicustom integrated circuits适用范围：本标准规定了下列集成电路（IC）分类体系树（见图1）中有关半定制集成电路子类的标准。 注:这个体系树是不封闭的，可以在需要时拓展。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-10-10 | 实施时间： 2007-02-01收藏
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现行
译：GB/T 12750-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 11:Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits适用范围：本分规范适用于已封装的半导体集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-08-23 | 实施时间： 2007-02-01收藏
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被代替
译：GB/T 20296-2006 Mnemonics and symbols for integrated circuits【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-13 | 实施时间： 2007-01-01收藏
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现行
译：GB/T 17574.10-2003 Semiconductor devices-Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-24 | 实施时间： 2004-08-01收藏
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现行
译：GB/T 19403.1-2003 Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-24 | 实施时间： 2004-08-01收藏
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现行
译：GB/T 19248-2003 Test method for measuring the resistance of package leads【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-07-02 | 实施时间： 2003-10-01收藏
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现行
译：GB/T 18500.1-2001 Semiconductor devices—Integrated circuits Part 4:Interface integrated circuits Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2001-11-05 | 实施时间： 2002-06-01收藏
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现行
译：GB/T 18500.2-2001 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 4:Interface integrated circuits—Section 2:Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2001-11-05 | 实施时间： 2002-06-01收藏
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现行
译：GB/T 5965-2000 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2:Digital integrated circuits—Section one—Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates(excluding uncommitted logic arrays)【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-01-03 | 实施时间： 2000-07-01收藏
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现行
译：GB/T 17940-2000 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 3:Analogue integrated circuits【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-01-03 | 实施时间： 2000-07-01收藏
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译：GB/T 17865-1999 Specification for measuring depth of focus and best focus【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-09-13 | 实施时间： 2000-06-01收藏
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译：GB/T 17864-1999 CD Metrology procedures【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-09-13 | 实施时间： 2000-06-01收藏
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译：GB/T 17866-1999 Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysis of mask defect inspection systems【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-09-13 | 实施时间： 2000-06-01收藏
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