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  • GB/T 19346-2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法 被代替
    GB/T 19346-2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法
    译：GB/T 19346-2003 Measuring method of magnetic properties at alternative current for amorphous and nanocrystalline soft magnetic alloys
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H58精密合金
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-03 | 实施时间： 2004-05-01
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  • GB/T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 被代替
    GB/T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
    译：GB/T 19289-2003 Methods of measurement of density, resistivity and stacking factor of electrical steel sheet and strip
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-09-12 | 实施时间： 2004-04-01
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  • GB/T 18876.1-2002 应用自动图像分析测定钢和其他金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第1部分：钢和其他金属中夹杂物或第二相组织含量的图像分析与体视学测定 被代替
    GB/T 18876.1-2002 应用自动图像分析测定钢和其他金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第1部分：钢和其他金属中夹杂物或第二相组织含量的图像分析与体视学测定
    译：GB/T 18876.1-2002 Standard practice for determining the metallographical constituent and inclusion content of steels and other metals by automatic image analysis—Part 1:Determining the inclusion or second-phase constituent content of steels and other metals by automatic image analysis and stereology
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-19 | 实施时间： 2003-06-01
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  • GB/T 1979-2001 结构钢低倍组织缺陷评级图 现行
    GB/T 1979-2001 结构钢低倍组织缺陷评级图
    译：GB/T 1979-2001 Standard diagrams for macrostructure and defect of structural steels
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2001-12-17 | 实施时间： 2002-05-01
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  • DB13/T 447-2001 出口碳钢深沟球轴承检验规程 废止
    DB13/T 447-2001 出口碳钢深沟球轴承检验规程
    译：DB13/T 447-2001 Exporting Carbon Steel Deep Groove Ball Bearing Inspection Regulations
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H11钢铁与铁合金分析方法
    发布单位或类别：(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间： 2001-11-29 | 实施时间： 2001-11-29
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  • GB/T 3655-2000 用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法 被代替
    GB/T 3655-2000 用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法
    译：GB/T 3655-2000 Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel sheet and strip by means of an Epstein frame
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-10-25 | 实施时间： 2001-09-01
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  • GB/T 7999-2000 铝及铝合金光电(测光法)发射光谱分析方法 被代替
    GB/T 7999-2000 铝及铝合金光电(测光法)发射光谱分析方法
    译：GB/T 7999-2000 Standard method for direct reading spectromertric analysis of aluminum and its alloys
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H12轻金属及其合金分析方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-08-28 | 实施时间： 2000-12-01
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  • GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法 被代替
    GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法
    译：GB/T 18036-2000 The test method of thermo-emf for platinum rhodium thermocouple thin wires
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-04-03 | 实施时间： 2000-09-01
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  • GB/T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 现行
    GB/T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法
    译：GB/T 18032-2000 The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-04-03 | 实施时间： 2000-09-01
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  • GB/T 4067-1999 金属材料电阻温度特征参数的测定 现行
    GB/T 4067-1999 金属材料电阻温度特征参数的测定
    译：GB/T 4067-1999 Testing method for electrical resistance-temperature characteristic parameters of metallic materials
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-11-01 | 实施时间： 2000-08-01
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  • GB/T 4339-1999 金属材料热膨胀特征参数的测定 被代替
    GB/T 4339-1999 金属材料热膨胀特征参数的测定
    译：GB/T 4339-1999 Testing method for thermal expansion characteristic parameters of metallic materials
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-11-01 | 实施时间： 2000-08-01
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  • GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 被代替
    GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
    译：GB/T 17473.1-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of solids content
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H15贵金属及其合金分析方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 被代替
    GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
    译：GB/T 17473.3-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of sheet resistance
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 被代替
    GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
    译：GB/T 17473.5-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of viscosity
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H22金属力学性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 被代替
    GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
    译：GB/T 17473.6-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics—Determination of resolution
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H23金属工艺性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验 被代替
    GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
    译：GB/T 17473.7-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Test of solderability and solderleaching resistance
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H23金属工艺性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定 被代替
    GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
    译：GB/T 17473.4-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of adhesion
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H22金属力学性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 被代替
    GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
    译：GB/T 17473.2-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of fineness
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-08-19 | 实施时间： 1999-03-01
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  • GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 被代替
    GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
    译：GB/T 1553-1997 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-06-03 | 实施时间： 1997-12-01
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  • GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法 被代替
    GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
    译：GB/T 1550-1997 Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
    【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-06-03 | 实施时间： 1997-12-01
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